Jump to content

    

alexunder

Свой
  • Content Count

    1053
  • Joined

  • Last visited

Community Reputation

0 Обычный

About alexunder

  • Rank
    Novichok
  • Birthday 05/25/1983

Контакты

  • Сайт
    http://
  • ICQ
    0

Recent Profile Visitors

8084 profile views
  1. Там вроде есть и бесплатный курс, но сертификат не дадут. Если этот же курс проходить платно (если не ошибаюсь, около 80 евро), то выдадут сертификат.
  2. Брать чип от FTDI и точка. Кипарисы нагородили в своем FX3 чудес... Если FX2 был удачным народным чипом, то FX3 - это какая-то жуть с практически ненужным ARMом, в котором, если не ошибаюсь, еще и ThreadX бегает.
  3. Вам правильно ответили, что сфокуироваться следует на аналоговой части, а ПЛИС тут уже дело десятое. Лет 12 назад знакомые занимались протаскиванием ДНК через одну единственную дырку (сделанную удачным выстрелом электронной пушки литографа) в графеновом лепестке (сам лепесток лежал на кремниевой пластине, анизотропно протравленной с обратной стороны), который и выступал той самом мембраной. Я хорошо помню, что токи там были мизерные и, чтобы различать прохождение отдельных сегментов ДНК приходилось использовать усилитель с синхронным детектором (lock-in amplifier) типа вот такого. С усилителя и следует начать и может даже с одноканального варианта всей системы.
  4. Судя по словам "ардуино" и "RPi" бюджет совсем не такой, как я предполагал, а то я хотел предложить нечто вроде этого, где и разрешение массива высокое, и оптика с подобающим MTF. Если у Вас есть желание порукоделить, то получить относительно хорошую систему (оптику и сенсор) можно купив б/у SLR-фотокамеру. Б/у камеры среднего ценового диапазона начала 2010х нынче стоят недорого и для основного применения не очень интересны. Однако при наличии рук, растущих откуда нужно, конвертируются в камеры "машинного зрения" для супер бюджетных применений, требующих высокого качества изображения. Для этого достаточно выбрать фотоаппарат, у которого есть возможность задействовать API и по USB (или какой там у него интерфейс) управлять им программно. Затем можно выбросить зеркальный механизм и убрать светофильтры с поверхности, увеличив таким образом массив пикселей в 4 раза. Это потребует определенной подготовки и навыков, но результат будет восхитительным: Вы получите grayscale камеру с хорошими оптическими параметрами. Если Вас такой вариант заинтересует, расскажу детали процедуры. Не так давно я подобным образом "препарировал" фотоаппарат коллеги. Картинки ниже показывают участок сенсора со смытым слоем светофильтров в оптическом микроскопе. Процесс подобран так, что слой микролинз остается на месте. Процедура может и выглядит очень колхозной, но в результате удается получить гораздо лучший performance, чем у ардуиноориентированных шнурков по Вашей ссылке.
  5. Обороты чего планируете считать? Коленвала, расходометра жидкости?
  6. Многое от бюджета зависит. Камер машинного зрения на указанный диапазон Mpix достаточно много. Помимо разрешения следует определиться с чувствительностью, типом матрицы (КМОП или ПЗС), динамическим диапазоном, ну и конечно, интерфейсом (Gig-E, USB, CameraLink)
  7. В зависимости от типа теста порой приходится создавать отдельные системы, переходники и платки с тестируемым чипом. Вот, например, камера для облучения тяжелыми ионами. Чип, разваренный на плату находится внутри, к "морде" камеры крепится плата-переходник, от которой kapton-шлейф идет к основной (управляющей) плате. А вот вариант тестирования TID того же чипа, но установка иная. Источник обведен красным кружком, красной стрелкой - плата с тестируемым объектом, желтым - плата управления, которая, как видно, спрятана за толстым слоем свинца.
  8. Если испытывают конкретный чип, то только его и "облучают". Зачем при этом облучать питающую или тактирующую электронику?
  9. Пардон, а не могли бы Вы объяснить для чайника, о каком явлении идет речь? что за утечка и причем тут тот факт, что металл не чистый?
  10. КТ312, использовать любой из p-n переходов. Линейность в широком диапазоне температур невероятная.
  11. Это больше похоже на отсутствие коррекции по усилению (PRNU) и/или отсутсвие FPN/dark frame коррекции. PRNU в идеале делается на каждый пиксель, но можно ограничиться по строкам, ради производительности. Для того, чтобы выбрать способ, надо посмотреть, как выглядит кадр равномерно засвеченной матрицы на уровне 50-70% насыщений. Чтоб убрать FPN попробуйте из каждого кадра попиксельно вычитать dark frame - кадр, полученный в полной темноте (при тех же параметрах, что и полезные кадры!). Результирующий кадр должен выглядеть гораздо чище. P.S. Тему следовало озаглавить точнее, укзав что речь идет о КМОП матрице. Шум нужно обязательно уменьшить, главным образом на питаниях аналоговой части (VDDA и прочие).
  12. Вот, тут две ортогональные задачи. Про ИК спектры написал, т.к. сужу по своему опыту в плане простоты установки метода (если речь только о вышеперечисленных газах). Из изложенного мне показалось, что Вам важен сам факт пролета металлической частицы (с последующей остановкой процесса), а не определение вещества. А это уже решается иначе. P.S. Присмотритесь к продукции Ocean Optics, они действительно бюджетные. Мини-спектрометр типа USB2000 можно найти б/у в приличном состоянии. Если требуется, откалибровать Hg-Ar лампочкой.
  13. теперь-то ясно о чем речь :) Что ж, выхлоп удобнее смотреть на поглощение, как мне кажется, - почему такой вариант не рассматриваете? Пропускать газ можно через стеклянную трубу (в идеале с кварцевыми окнами по бокам) и смотреть спектры Фурье-спектрометром (FTIR), какой-нибудь б/у вариант типа Oriel MIR8000 можно поискать в местных университетах. В противном случае поискать книжки по спектроскопии тлеющего разряда, но, думаю, можно эмпирически подобрать параметры его возбуждения, чтобы получить хороший сигнал/шум в спектре. Для этого можно "пульнуть" заведомо известную смесь веществ (запустив какой-нибудь стандартный и хорошо изученный Ваш процесс). Да, этот вопрос уже не актуален, т.к. я думал о другой установке. Следует поискать некие уловители для таких металлов у поставщиков вакуумного оборудования (Pfeiffer, Varian и т.п.) +1
  14. Если я правильно понял, то: в Вашей системе создается дуговой разряд, посредством которого свариваются два или более металлов. Вы желаете наблюдать спектр излучения дуги в отдалении от сердцевины дуги. Тогда, исходя из моих (базовых) познаний, смею заявить, что интенсивность излучения зависит от температуры газа (скорее всего экспоненциально), а следовательно, от и тока разряда. Более того, большую роль будет играть место наблюдения (середина или приэлектродная область), особенно, на постоянном токе. А вот из этого создается впечатление, что Вы хотите смотреть спектры поглощения. Или у Вас горячие (светящиеся) компоненты попадают непосредственно в насос?