Перейти к содержанию
    

Перемаркировка пластикового wirebond корпуса на подозрительном чипе

Попался тут чип, Артикс китайского происхождения.

С виду с ним все хорошо, вот только маркировка нанесена очень неглубоко (но больше похоже на лазер, чем на краску) и 2D код откровенно фейковый - не соответствует кодировке датаматрикс, да и нанесен криво. 

С обратной стороны все шары на месте, царапин на стороне шаров нет. Есть небольшие царапины по бокам.

Прозвонил основные пины - внутри есть кристалл, и по пинауту похоже на Артикс (или какой-то его аналог). Включать пока не пробовал. Пока основное предположение - что это бушный чип, не факт что именно 100T, но скорее всего Артикс с каким-то образом обновленным и перемаркированным лицом.

 

Как это вообще возможно сделать? Понимаю еще, что металлические крышки на чипах меняют - дорого, но реализуемо.

А тут как? Можно ли восстановить черную шероховатую поверхность пластика после спила? Или это спил + нанесение нового лицевого слоя? По бокам следов "подкраски" вроде бы не видно.

Одна зацепка - во внутреннем углублении должно быть гладкое кольцо от форсунки, через которую заливают пластик. А тут это кольцо также имеет шероховатость.

 

image.jpeg

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Мне память б/у похожего вида попадалась. Корпус точно пиленый: обратите внимание на разную обработку поверхности сверху и по бокам пластика.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

16 minutes ago, aaarrr said:

Корпус точно пиленый: обратите внимание на разную обработку поверхности сверху и по бокам пластика.

Бока и в оригинале гладкие. Тисненую поверхность имеет только верх крышки с плавным переходом в гладкий бок. Тут переход тоже выглядит плюс-минус таким же, как на оригинале.

Левый 2д код однозначно выдает перемаркировку, но следов от старой маркировки не видно (если она вообще была).

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

1 час назад, Flood сказал:

Как это вообще возможно сделать? Понимаю еще, что металлические крышки на чипах меняют - дорого, но реализуемо.

Как это делают лучше спросить авторов (китайцев). Но это однозначно происходило и теперь будет происходить чаще. Причём нанести гравировку намного дешевле, чем заменить крышку и у китайцев, как я полагаю, по некоторым позициям это поставлено на поток. Поэтому либо полный функциональный тест на входном контроле, либо применение ультразвуковых микроскопов типа https://sovtest-ate.com/news/publications/ultrazvukovye-mikroskopy-acoulab-dlya-poiska-kontrafakta/

Мы для себя выбрали функциональные тесты, благо панели для BGA стоят не очень дорого - около 35 т.р. на Али (порядка 250 баксов + доставка + накладные).

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

48 minutes ago, makc said:

Мы для себя выбрали функциональные тесты, благо панели для BGA стоят не очень дорого - около 35 т.р. на Али (порядка 250 баксов + доставка + накладные).

Можно ссылку на магазин где покупали?

Я вот тоже сейчас думаю о входном контроле для Xilinx/Fudan/PangoMicro ибо брака в последней партии было много.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

1 минуту назад, BSACPLD сказал:

Можно ссылку на магазин где покупали?

Легко - https://aliexpress.ru/store/2854093?g=y&page=1&spm=a2g2w.detail.0.0.6a5a3627yCucxR

По запросу достаточно быстро присылают чертежи и описание. На сколько я понял, могут сделать практически любую конструкцию на заказ.

Ещё есть Fullfusion приблизительно за те же деньги - https://aliexpress.ru/store/4745030?g=y&page=1&spm=a2g2w.detail.0.0.2ed83d49y5reV0

Но их конструкция мне понравилась меньше, т.к. не так удобно регулировать силу прижима.

PS: При проектировании платы пробовали делать покрытие ENIG, но с ним работает не очень хорошо и иногда нет контакта при установки микросхемы в контактное устройство. С HASL получается намного лучше, поэтому первые платы с ENIG в итоге пришлось облудить вручную. Пятаки, понятное дело, лучше делать побольше, т.к. пружинные контакты панели имеют заметный люфт.

6 минут назад, BSACPLD сказал:

Я вот тоже сейчас думаю о входном контроле для Xilinx/Fudan/PangoMicro ибо брака в последней партии было много.

Есть такая проблема. По Артиксам сейчас, правда, брака не очень много. По Spartan-6 больше.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

1 hour ago, makc said:

Как это делают лучше спросить авторов (китайцев).

Ну, по понятным причинам приходится спрашивать здесь 🙂 Вдруг кто сталкивался. Вам попадались бракованные (функционально) чипы? Как это выглядело с точки зрения их работы?

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

1 минуту назад, Flood сказал:

Вам попадались бракованные (функционально) чипы? Как это выглядело с точки зрения их работы?

В самом печальном варианте КЗ по питанию. Более интересные варианты - горелые гигабитные трансиверы, неработающие входы тактовых сигналов. Проблем с обычными пинами я не помню. Пару раз было повышенное потребление ядра относительно эталонных измеренных значений, но поскольку оно было не слишком большим (десятки миллиампер), то ПЛИС была признана годной.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

1 hour ago, makc said:

Поэтому либо полный функциональный тест на входном контроле

Порекомендуйте, как его проводить? Делаете ли вы тестирование внутренних ресурсов (как?), и, самое главное, спидгрейда? Позволяет ли, например, поведение MGT однозначно отделить -1 от -2? Полагаю, температурный диапазон тестированию вообще не подлежит.

Или же вы просто запускаете обычную рабочую прошивку своего продукта на тестовой плате, и если она работает и проходит тесты, чип признается годным?

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

12 minutes ago, Flood said:
2 hours ago, makc said:

Как это делают лучше спросить авторов (китайцев).

Ну, по понятным причинам приходится спрашивать здесь 🙂 Вдруг кто сталкивался. Вам попадались бракованные (функционально) чипы? Как это выглядело с точки зрения их работы?

Xilinx - 1 шт. из 50 шт. имела КЗ по питанию.

Fudan - 15 шт. из 110 шт. имеют проблемы с некорректной загрузкой прошивки - верификация не проходит. 13 шт. при минусовой температуре -10...-20 градусов, 2 шт. при 15 градусах.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

13 minutes ago, makc said:

В самом печальном варианте КЗ по питанию. Более интересные варианты - горелые гигабитные трансиверы, неработающие входы тактовых сигналов.

Хм, это было больше похоже на б/ушные чипы (что не так страшно), а не на бракованные новые (что гораздо страшнее)?

Неработающие тактовые входы были также у MGT? Или обычные MRCC/SRCC попадались нерабочими?

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Причем верификация именно битстрима загруженного в SRAM. Верификация FLASH проходит успешно.

4 minutes ago, Flood said:

Или же вы просто запускаете обычную рабочую прошивку своего продукта на тестовой плате, и если она работает и проходит тесты, чип признается годным?

Я делал верификацию загруженного битстрима, потом верификацию FLASH, потом тест с рабочей прошивкой. Сначала при комнатной температуре, потом в климатической камере до -35 тестировал.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Только что, Flood сказал:

Порекомендуйте, как его проводить?

У меня для этого была спроектирована отдельная оснастка, на которой стоит ПЛИС Artix-7, реализующая необходимое управление питанием, генерацию тестовых воздействий и регистрацию откликов. Для реализации всей этой логики внутри стоит Microblaze, который и заведует тестированием.

2 минуты назад, Flood сказал:

Делаете ли вы тестирование внутренних ресурсов (как?), и, самое главное, спидгрейда?

В тестируемую ПЛИС загружается прошивка, которая забивает массивом типовых ячеек из LUT+FF большую часть кристалла и гоняет по этой цепочке данные, управляет входами-выходами ПЛИС, опрашивает входы ПЛИС и позволяет гонять тесты через GTP (PCIe). Спидгрейд так полноценно проверить не получится, т.к. с помощью ПЛИСины сложно регистрировать разницу в задержках меньше одной наносекунды. Но, с другой стороны, мы получаем достаточно большую вероятность, что протестированная ПЛИС будет так же работать в изделии, как и на оснастке. Тесты нацелены в первую очередь на это.

5 минут назад, Flood сказал:

Позволяет ли, например, поведение MGT однозначно отделить -1 от -2?

Нет, т.к. нет перебора условий по напряжению и температуре. При условных НУ и комнатной температуре -1 вполне может разогнаться до -2, но вот при повышении температуры всё потом может выйти из-под контроля.

6 минут назад, Flood сказал:

Или же вы просто запускаете обычную рабочую прошивку своего продукта на тестовой плате, и если она работает и проходит тесты, чип признается годным?

Это больше, чем рабочая прошивка. Но в целом можно сказать и так.

5 минут назад, Flood сказал:

Хм, это было больше похоже на б/ушные чипы (что не так страшно), а не на бракованные новые (что гораздо страшнее)?

По Спартанам-6 это было больше похоже на бушные некондиционные микросхемы, т.к. китайцы их толком не тестируют. Максимум выборочно "проверяют", что читается IDCODE через JTAG. Но при этом раз за разом присылают одни и те же картинки. На Артиксах были бракованные новые, т.к. по виду не похоже на реболлинг. Но пока там количество брака меньше одного процента.

7 минут назад, Flood сказал:

Неработающие тактовые входы были также у MGT? Или обычные MRCC/SRCC попадались нерабочими?

Пока встречались только у MGT, обычные MRCC/SRCC мертвыми не попадались.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

37 minutes ago, BSACPLD said:

Fudan - 15 шт. из 110 шт. имеют проблемы с некорректной загрузкой прошивки - верификация не проходит. 13 шт. при минусовой температуре -10...-20 градусов, 2 шт. при 15 градусах.

Т.е. такое качество у обычного, не поддельного Фудана? Или это был контрафакт? (китайский контрафакт китайского контрафакта, нда...)

34 minutes ago, makc said:

При условных НУ и комнатной температуре -1 вполне может разогнаться до -2, но вот при повышении температуры всё потом может выйти из-под контроля.

Я когда-то давно провел одиночный эксперимент с Кинтексом - запаял в плату с PCIe gen2 x8 (для этого должен был быть чип -2) чип-единичку. И линк на PCIe вообще не поднимался, никак. Варианты прошивок на gen2 x4 и gen1 x8 работали нормально. Заменил чип на -2 и gen2 x8 заработал.

Был удивлен, особого значения не придал, задачи отличать спидгрейды тогда не было. Но подумал что внутри могут быть какие-то спид фузы, наглухо запрещающие работу определенных конфигураций.

2 hours ago, makc said:

Мы для себя выбрали функциональные тесты, благо панели для BGA стоят не очень дорого - около 35 т.р. на Али (порядка 250 баксов + доставка + накладные).

Впаиваемые в отверстия панельки типа Yamaichi не рассматривали?

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

46 minutes ago, makc said:

забивает массивом типовых ячеек из LUT+FF большую часть кристалла и гоняет по этой цепочке данные

Такую прошивку делаете обычным способом, генерацией логических цепочек в HDL? Требуется ли ручное участие или доп флурплан, чтобы такое нормально разводилось? М.б. есть что-то почитать на эту тему (в том числе, как грамотно забить весь кристалл и не потонуть на P&R)?

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Присоединяйтесь к обсуждению

Вы можете написать сейчас и зарегистрироваться позже. Если у вас есть аккаунт, авторизуйтесь, чтобы опубликовать от имени своего аккаунта.

Гость
Ответить в этой теме...

×   Вставлено с форматированием.   Вставить как обычный текст

  Разрешено использовать не более 75 эмодзи.

×   Ваша ссылка была автоматически встроена.   Отображать как обычную ссылку

×   Ваш предыдущий контент был восстановлен.   Очистить редактор

×   Вы не можете вставлять изображения напрямую. Загружайте или вставляйте изображения по ссылке.

×
×
  • Создать...