Перейти к содержанию
    

Тест Highly Accelerated Life Test(HALT)

Всем привет. интересует Highly Accelerated Life Test(HALT). есть ли у кого методики или литература по этому типу теста

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

В общем виде, тест основан на уравнении Аррениуса,

где устанавливается зависимость скорости химической реакции от температуры.

 

Конкретные методики есть ноу-хау, но в инете может найти у крупных поставщиков.

Привожу пример от Xilinx.

Arrhenius_xilinx.pdf

Изменено пользователем i-mir

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Я писал дисер на тему старения кварцевых резонаторов, там ускорение с помощью температуры тоже используется, однако результаты методики не идентичны старению при рабочих условиях.

В уравнении Аррениуса присутствует энергия активации, эти цифры для каждого соединения свои - таким образом характерные кривые старения на разных температурах определяются выходом различных соединений.

В общем температурным ускорением можно получить только качественные оценки старения, но не количественные.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Присоединяйтесь к обсуждению

Вы можете написать сейчас и зарегистрироваться позже. Если у вас есть аккаунт, авторизуйтесь, чтобы опубликовать от имени своего аккаунта.

Гость
Ответить в этой теме...

×   Вставлено с форматированием.   Вставить как обычный текст

  Разрешено использовать не более 75 эмодзи.

×   Ваша ссылка была автоматически встроена.   Отображать как обычную ссылку

×   Ваш предыдущий контент был восстановлен.   Очистить редактор

×   Вы не можете вставлять изображения напрямую. Загружайте или вставляйте изображения по ссылке.

×
×
  • Создать...