Перейти к содержанию
    

Надёжность хранения прошивки в плис

От этого в ПЛИС не появится физической возможности переписать свою встроенную конфигурационную флеш изнутри себя.

 

А, речь про CPLD. Тогда да, пожалуй.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

А, речь про CPLD. Тогда да, пожалуй.

 

Да и в FPGA c флеш-памятью, например LatticeXP, LatticeXP2, MAX-V, и т.п. такой возможности нету. Там можно переписать user flash, TAG, т.п., но никак не конфигурацию.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

От этого в ПЛИС не появится физической возможности переписать свою встроенную конфигурационную флеш изнутри себя.

 

такая возможность есть в LatticeXP2 - SSPIA порт/примитив, мы ей пользуемся, очень полезно.

по-моему и в MachXO2 тоже можно (ну из-за малого размера на практике снаружи должен быть какой-то контроллер, но теоретически возможно)

 

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

такая возможность есть в LatticeXP2 - SSPIA порт/примитив, мы ей пользуемся, очень полезно.

Спасибо, не знал :)

 

Но, все равно, в CPLD этой возможности нет.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Поэтому в среднестатистической ПЛИС значительно меньше шансов порчи флеши, чем в среднестатистическом МК.

 

В случае с моей катушкой - действительно происходила наводка команды на стирание и стиралась страница.

 

Но! Есть дисер Ферсенко М.В. из ЦНИРТИ, в котором показана аппаратура для уничтожения информации во флэш памяти путём облучения электромагнитным полем мощностью менее 1мкДж в течении 1мС. На эту тему им выполнен ряд НИОКР ещё 7 лет назад.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

В случае с моей катушкой - действительно происходила наводка команды на стирание и стиралась страница.

 

Но! Есть дисер Ферсенко М.В. из ЦНИРТИ, в котором показана аппаратура для уничтожения информации во флэш памяти путём облучения электромагнитным полем мощностью менее 1мкДж в течении 1мС. На эту тему им выполнен ряд НИОКР ещё 7 лет назад.

 

а принцип или какие-либо детали можете описать? а то и рентгеновское излучение, самое что ни на есть, электромагнитное поле

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

а принцип или какие-либо детали можете описать? а то и рентгеновское излучение, самое что ни на есть, электромагнитное поле

 

 

На защиту выносятся следующие научные положения:

1. Уничтожение информации на полупроводниковом носителе электромагнитным полем при энергиях импульса не менее 2,2-10—5 Дж с использованием туннельного пробоя без деструкции транзисторной структуры.

 

2. Использование магнитного поля с длительностью импульса более 1 мс, обеспечивает максимальную передачу энергии внутрь полупроводниковой структуры с учетом ослабления магнитного поля за счет скин-эффекта.

 

3. Разрушение транзистора за счет нагрева возможно даже при малых значениях электрического поля, при многократном импульсном облучении. Создаваемое электрическое поле, с величиной определяемой крутизной (или скоростью) вызывает изменение магнитного поля.

 

4. Учет и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством многократного облучения электромагнитными импульсами обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

 

5. Учет и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством программного стирания информации непосредственно с микросхемы памяти с последующим воздействием на флеш носитель высоким напряжением обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

 

6. Использование полеобразующей системы состоящей из шести жестко связанных контуров и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством воздействия переменным магнитным полем обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

 

7. Применение разработанных способов построения систем управления, регистрации и контроля технических характеристик прибора, обеспечивают высокую точность измерения параметров для надежного стирания информации.

 

8. Комбинация способов внешнего воздействия, оптимизированная и реализованная в макете прибора, обеспечивает гарантированное уничтожение информации с носителей, в основе которых лежат полупроводниковые элементы (флеш память).

 

 

 

fesenko.zip

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

В 19.02.2014 в 09:32, SM сказал:

Естественно, так как в микроконтроллере есть код (программа), на который тот по ошибке залететь может, и который напакостит, а в ПЛИС это невозможно физически.

В SRAM -based ПЛИС слетает конфигурация

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Присоединяйтесь к обсуждению

Вы можете написать сейчас и зарегистрироваться позже. Если у вас есть аккаунт, авторизуйтесь, чтобы опубликовать от имени своего аккаунта.

Гость
Ответить в этой теме...

×   Вставлено с форматированием.   Вставить как обычный текст

  Разрешено использовать не более 75 эмодзи.

×   Ваша ссылка была автоматически встроена.   Отображать как обычную ссылку

×   Ваш предыдущий контент был восстановлен.   Очистить редактор

×   Вы не можете вставлять изображения напрямую. Загружайте или вставляйте изображения по ссылке.

×
×
  • Создать...