Dunadan 0 4 декабря, 2012 Опубликовано 4 декабря, 2012 · Жалоба Доброго времени суток, уважаемые форумчане. Ищу измеренную характеристику любого микрополоскового фильтра на резонаторах без заземления (полуволновых), соответственно, центральная частота, полоса, материал подложки и т.д. не имеют значения, нужны только размеры фильтра и экспериментально снятая АЧХ. Дело в том, что уже давно хочу определиться с софтом для моделирования фильтров, пробовал MWO, ADS, CST/HFSS, результаты во всех немного разные. Хочу промоделировать и сравнить с экспериментальной характеристикой, затем выбрать максимально адекватный пакет по точности/времени моделирования/кол-ву дополнительных настроек. Гуглил, но нахожу только разные научные статьи, в которых указаны только габаритные размеры фильтров, но не полная геометрия. Если у кого-то есть полезные ссылки, просьба поделиться. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Mikhailrt 0 5 декабря, 2012 Опубликовано 5 декабря, 2012 · Жалоба Будет интересно увидеть отчетик Как давно это было: RO4003 (материал) h=0.508mm(толщина подложки) T=0.018mm (толщина меди) YM_2008.pcb _________.rar Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
TimKaa 0 5 декабря, 2012 Опубликовано 5 декабря, 2012 · Жалоба Материал - Ro4003 1/2 Oz 8mil. Картинки - CST, Genesys(Momentum), VNA ЗЫ - забыл добавить результат на VNA, перезалил архив. cad_compare.rar Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Виталий_ 0 5 декабря, 2012 Опубликовано 5 декабря, 2012 · Жалоба Обычно в перечисленных софтах получается что-то похожее, но с экспериментом расходятся и иногда на частоте где ожидается резонанс в реале провал((, а резонанс на несколько сотен Мгц сдвинут. Так что на софтик надейся, а опытный образец желателен Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Dunadan 0 5 декабря, 2012 Опубликовано 5 декабря, 2012 · Жалоба Mikhailrt, mig-11101 , большое спасибо за предоставленные материалы. Займусь моделированием. Виталий, сейчас занимаемся микроминиатюрными фильтрами, настройка которых возможна только на этапе изготовления (т. н. "настройка технологией"). На готовых образцах из-за очень малых размеров настройку нельзя будет осуществить в принципе. Поэтому так важна точность на этапе проектирования. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
EUrry 3 5 декабря, 2012 Опубликовано 5 декабря, 2012 · Жалоба Условия измерения, корректность калибровки, криворукость оператора и прочие нюансы, включая методы и правильность построения моделей в различных САПР внесут очень большие коррективы на конечный результат сравнения. Объективность его при таком "общенародном" участии мне кажется еще менее достижимой, ИМХО (в ловле блох между САПР). Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
EVS 0 6 декабря, 2012 Опубликовано 6 декабря, 2012 · Жалоба Помимо точности измерения и практически независимо от выбора среды проектирования... Точность воспроизводства топологии. Пример: зазоры 75 микрон на роджерсе. Производитель дает точность в 20 микрон, да и то не гарантированно, а шепотом в приватной беседе. Вводишь в любой симулятор такие допуски для yield-анализа. На выходе - 10 процентов годных, плакать хочется. Повышать порядок фильтра для повышения процента - размеры и потери; искать другого производителя - цена в два раза. В результате, что дешевле - бесподстроечный фильтр убойной стоимости или мальчик-настройщик со скальпелем/поглотителем/индием - еще тот вопрос... Хотя, если повторяемость вашей технологии неприлично высока, то в чем проблема? Любой симулятор что-то посчитает. По результатам измерения образца корректируем топологию (именно тут симулятор совершенно незаменим). В крайнем случае, после второй итерации, уж точно попадете. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
TimKaa 0 6 декабря, 2012 Опубликовано 6 декабря, 2012 · Жалоба Действительно, очень многое зависит от моделей и настроек в САПР, погрешностей прототипов, калибровки. Поэтому, приведенные результаты стоит воспринимать скептично. При сравнивании с прототипом - советую с помощью микроскопа замерить размеры резонаторов, зазоров и сравнить их с проектными. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Dunadan 0 6 декабря, 2012 Опубликовано 6 декабря, 2012 · Жалоба Я всё понимаю насчет точности изготовления и настройки. Производитель гарантирует зазоры между резонаторами до 3 микрон. Некоторые платы фильтров размером 5x2 мм, и на них помещается по 5 резонаторов. Т.е. настройка поликором, индием и прочими традиционными методами исключена. Поэтому для меня очень важен выбор САПР. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
ser_aleksey_p 0 6 декабря, 2012 Опубликовано 6 декабря, 2012 · Жалоба Я всё понимаю насчет точности изготовления и настройки. Производитель гарантирует зазоры между резонаторами до 3 микрон. Некоторые платы фильтров размером 5x2 мм, и на них помещается по 5 резонаторов. Т.е. настройка поликором, индием и прочими традиционными методами исключена. Поэтому для меня очень важен выбор САПР. Это технология LTCC-MMIC. В ADS есть такая возможность, судя по рекламе AWR - там тоже есть. А вот как CST считает нанофильтры - это вопрос. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
EUrry 3 6 декабря, 2012 Опубликовано 6 декабря, 2012 · Жалоба ... нанофильтры ... 3000 нм и это только допуск!!! Да, без приставки "нано" нОнче никуда! :laughing: Что раньше всегда было "микро" - разом стало "нано". Иногда уже даже раздражать начинает, когда настолько МИКРО, чуть ли не МИЛЛИ, "притягивают за уши" к НАНО. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Dunadan 0 7 декабря, 2012 Опубликовано 7 декабря, 2012 · Жалоба Mikhailrt, вот что у меня получилось в результате моделирования в разных САПР для Вашего фильтра. mig-11101, а Вы не могли бы приложить характеристику не в виде картинки, а в виде файла .s2p или таблицы? Было бы удобнее сравнивать результаты. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
ser_aleksey_p 0 7 декабря, 2012 Опубликовано 7 декабря, 2012 · Жалоба 3000 нм и это только допуск!!! Ну почему же, Dunadan писал, что Производитель гарантирует зазоры между резонаторами до 3 микрон. Допуск порядка на два меньше. Даже 1 порядок приведет к 300 нм. 4 катушки, 3 кондера и еще море места на 1,0х1,6 мм Для расчета такой фитюльки в ADS-FEM надо оперативки больше 16 ГБ. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Dunadan 0 7 декабря, 2012 Опубликовано 7 декабря, 2012 · Жалоба Да, 3 мкм - минимальный зазор (не допуск), который допускает их технология. Кстати, меня удивило то, что результаты во всех САПР довольно хорошо совпали. Обычно на фильтрах от 10 ГГц ситуация похуже: САПРы кто в лес, кто по дрова По крайней мере, у меня так получалось. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
EUrry 3 7 декабря, 2012 Опубликовано 7 декабря, 2012 · Жалоба По крайней мере, у меня так получалось. Вот скорее всего именно так. От корректности построения модели и, самое главное, понимания построения и методов моделирования зависит более половины успеха. Можно построить "вроде бы" внешне правильную модель, но получить совершенно неадекватные результаты, а потом пенять на САПР, хотя надо сами догадываетесь на кого. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться