Tem@

Спасибо я уже это понял. Просто меня немного с толку сбила литература

Получается обнаружен огромный минус AD

Добрый день. Сотолкнулся с таким вопросом - как отобразить на схеме подключение скрытых выводов. К примеру на микросхемах логики выводы питания скрытые, а в документации этот момент должен быть отображён. К примеру в PCAD можно было на схеме отобразить таблицу подключений. Как можно это реализовать в AD.

Добрый день. Помогите пожалуйста разобраться с запоминатнием уставок. Есть (точнее разработан и запущен) прибор на базе ATmega16. ПРограмма рабочая и всем устраивает. Но прибор необходимо настаривать и значения пары параметров измерять и вносить в программу. После чего прошивать проц. ПРичём измерения этих параметров производится самим прибором. Поэтому пришла мысли о автоматизации этого процеса. Знающие люди расскажите как заставить программу записать полученные значения в энергонезависимую память. Уже написан тестовый режим который включается перемычкой и программа может снять данные . Я только абсолютно не знаю как эти данные сохранить и в последующем чтобы основная ветка программы использовала эти уставки. По сути процесс простой каждый программер знает как это делать, но начинающий :crying: Использую codevisionAVR. Благодарю за помощь.

Господа как Вы считаете может проще приобрести лабороторную термокамеру и экспериментально определить параметры ЭТТ?

Цифры взяты отсюда http://www.chipnews.ru/html.cgi/arhiv/02_06/8.htm

Надёжность РЕА характеризуется кривой зависимости интенсивности отказов от времени. Кривая делится на три участка: первый - период приработки, высокая вероятность отказа (1000 ч), второй - период эксплуатации низкая вероятность отказа (150 000 ч), третий - период износа изделия, возрастающая вероятность отказа. Так вот предприятие должно отгружать изделие прошедшее приработку (искуственное стрение если хотите) но это 1000 часов!!!!!! Для сокращения времени приработки вводится процедура исскуственого старения - электротермотренировка. Полностью нагруженое по электрическим параметрам изделие подвергается действию внешних факторов (в данном случае температуры). Таким образом время приработки составляет не 1000 ч работы в нормальных условиях а к примеру 24 или 48. Т.е вывели изделие на второй участок кривой интенсивности отказов. Так вот мне не понятно как постороить методику (регламент) воздействия на изделие внешними факторами чтобы провети искуственное старение (приработку или отбраковочные испытания) да к томуже сохранитиь рессурс изделия.

В нормальных условиях проверки себя не оправдывают. Выходит из строя изделие обычно уже у заказчика, а он на это обычно злится :maniac: Электротермотренировка необходима для раннего обнаружения брака и для коррекции технологии производства. Само понятие электротермотренировки предполагает наличие камеры. Мне интерестны сейчас критерии выбора режимов тренировки. Говоря о режимах я имею ввиду температуру, длительность выдержки в камере, возможно есть необходимость термоциклирования. То что изделие находится по электрическим режимам в условиях либо номинальных либо ближе к кретическим это я и сам додумался. А вот как задать внешние воздействия пока не знаю. Точнее хотелось бы знать на чём необходимо базироваться при подготовке методики испытаний. Какую температуру выбрать, какой цикл задать какое время? Также необходимо учитовать что методика должна по возможности сокращать время тренировки. Если возможно посоветуйте оборудование

Какое испытательное оборудование Вы используете? Что такое "н.у"? Вы разрабатывали методику проверки? Если да то буду очень благодарен если позволите ознакомиться.

Есть необходимость во внедрение в производственный цикл электротермотренировки блоков электроники. Подчёркиваю не отдельных элементов (деталей) а именно собраных блоков электроники. Даже не знаю с какой стороны подойти к решению вопроса. Если кто занимался помогите. Электроника промышленого назначения.

Спасибо вещь действительно ценная

Сейчас занимаюсь ускоренными испытаниями. Очень интерестно было бы взглянуть на РД В 319.01.11-98. Если есть у кого очень прошу дать для ознакомления.

Интересуют испытания ПЧ типа "искуственое старение" или форсированые испытания. Цель отбраковка в процессе испытаний. Можно ли испытывать готовое изделие в сборе или электронику отдельно и силу отдельно? Может есть какие либо документы или ГОСТы по данному вопросу? Прошу помочь

Интересуют испытания ПЧ типа "искуственое старение" или форсированые испытания. Цель отбраковка в процессе испытаний. Можно ли испытывать готовое изделие в сборе или электронику отдельно и силу отдельно? Может есть какие либо документы или ГОСТы по данному вопросу? Прошу помочь