Ну, номер-то ГОСТа не загрифован, если он в каждом ТУ указывается (ГОСТ РВ 20.39.414.2). Загрифовано его содержание и даже название. А человек только номер и спрашивает. А уж где он его брать будет - это его дело.
По-моему, в вопросе ответ.
А почему бы не поступить проще? Использовать для моделирования резистивной пленки (встык к контактам) граничное условие с заданным поверхностным сопротивлением. Результаты достаточно сопоставимы и нет лишних временных машинных затрат на построение и решение 3D-сетки.
Спасибо за информацию. К сожалению того, что ищу там нет. В любом случае отталкиваться надо будет от разрешающей способности фоторезиста. Может быть что-то в ТУ на фоторезисты есть, не смотрел еще.
Речь не идет о самопальных ПП. Речь идет об определении разрешающей способности технологического процесса. Меня интересует стандартизированный способ, описанный в ГОСТ или ОСТ, прежде всего касаемых микроэлектроники.
Приветствую, коллеги!
Интересует стандартизованный способ, описание чертежа/эскиза фотошаблона-теста, если таковые имеются. Интересующая область - микроэлектроника, но если что-то подобное имеется в технологии печатных плат - не побрезгую посмотреть для аналогии.
"Своим" придуманным способом сделать фотошаблон-тест всегда можно. Покопавшись в Интернете, как минимум три направления выделил:
1) Разрешающая способность фоторезиста определяется числом линий равной толщины, которые могут быть получены без слияния на 1 мм поверхности подложки в результате проведения процесса фотолитографии (из какого-то пособия);
2) Разрешающую способность (минимальную ширину воспроизводимого элемента) определяют путем получения контактным способом изображения фотошаблона-теста, контролируя геометрическую форму и размеры элементов (ГОСТ Р 52250 - Материалы электронной техники. Резисты для литографических процессов. ОТУ);
3) Использование миры для проверки разрешающей способности объективов.
Спасибо!
Против. Асоциальное изобретение виртуальной реальности. Мало того, что люди практически перестали общаться вербально, так еще и писать скоро разучатся - назад к наскальным надписям, сакральным знакам. Все эти "знаки внимания" показывают либо скудоумие и скупословие человека, либо попросту нехотение траты времени и истинного внимания на собеседника. А такой "ответ" - лишь мнимое внимание с неясным содержанием.
Часто что-то новое встречаешь без особого энтузиазма, когда старое работает более-менее отлажено. Как уже отмечено, во-первых, дизайн. И вопрос не столько в самом дизайне наверное, сколько просто в удобстве восприятия. То есть попросту нужен контраст между отдельными элементами. Второе, что по крайней мере я не смог сделать, - это вывести темы за последние несколько дней (когда указываешь дни числом). Остальное, если и выявится, то наверное только при "близком общении" ))
Как-то скомкано, косноязычно, непоследовательно и, думаю, недостаточно, даже для неуверенных разработчиков. Местами даже запутанно. В "популярной глянцевой" литературе последних лет уже много разжевано. Как говорится, "Списывание с одного источника - плагиат, списывание из нескольких - исследование". ;) По области применения, уверен, гораздо больше можно почерпнуть из даташитов оригиналов.
А если просто галетник прокрутить оборотов на 10-20 или туда суда, если крайние положения есть? Самозачистку контактов никто не отменял. В мультиметре, который меня без дела валяется месяцами, это типичный случай.
Вы хотите сказать потери уменьшатся в ~1000 раз? Ну, вот это надо очень хорошо обдумать и проверить... Кстати, это замер для микрополоска или копланара? В случае с микрополоском, верхнее покрытие должно меньше на потери влиять. Хотя на роджере может быть вклад и достаточно значительный, т.к. эпсилон невелика и поле завивается наверх в большей степени.
Распределение поля покажет, а различные потери откуда? Материал? Как Вы его учитываете при моделировании, если смогли, конечно, получить корелляцию моделей с измерениями?
Нет конечно. Это измерение через емкость, как привел MW_Юрий, только с уточнениями и, так сказать, стандартизированно. И то, для низких частот с точки зрения СВЧ-иста. Посмотрите сами. Это не Ваш вариант. Только как оценка для каких-то случаев.
Насчет метода разности фаз, наверное тоже надо иметь "чистый" отрезок линии - без переходов и других неоднородностей. Как это сделать - другой вопрос. Возможно, собственным калибровочным набором из подобных линий разной длины. Иначе не ясно, какой вклад в эффективную эпсилон будут давать емкости неоднородностей.
