negiin 0 11 июня, 2008 Опубликовано 11 июня, 2008 (изменено) · Жалоба Всем доброго времени суток. Пишу диплом. В качестве исследовательской части у меня испытания на надежность, в частности форсированные испытания. Возник вопрос: Как определяется коэффициент подобия? Если есть ссылки на какие нибудь материалы дайте пожалуйста. Изменено 11 июня, 2008 пользователем Denisnovel Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
waler 0 13 июня, 2008 Опубликовано 13 июня, 2008 · Жалоба Всем доброго времени суток. Пишу диплом. В качестве исследовательской части у меня испытания на надежность, в частности форсированные испытания. Возник вопрос: Как определяется коэффициент подобия? Если есть ссылки на какие нибудь материалы дайте пожалуйста. Может коэффициент ускорения?Методика ускоренных испытаний есть в ГОСТ В 20.57.304-76(98). Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
negiin 0 13 июня, 2008 Опубликовано 13 июня, 2008 · Жалоба Может есть у кого следующие документы в электронном виде. 1 РМ 11 0008-84 Изделия электронной техники. Методы ускоренных испытаний на долговечность и гамма-процентный ресурс. Общие требования 2 ОСТ 11 094.039-79 Методы ускоренной оценки гамма-процентного ресурса 3 РД 11 0755-90 Микросхемы интегральные. Методы ускоренных испытаний на безотказность и долговечность Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Gennadiy_1 0 14 июня, 2008 Опубликовано 14 июня, 2008 · Жалоба Всем доброго времени суток. Пишу диплом. В качестве исследовательской части у меня испытания на надежность, в частности форсированные испытания. Возник вопрос: Как определяется коэффициент подобия? Если есть ссылки на какие нибудь материалы дайте пожалуйста. Уточните: речь идет об форсированных испытаниях ЭРИ или РЭА? Для РЭА могу посоветовать РД В 319.01.11-98 "Типовые методики ускоренных испытаний на безотказность и долговечность". Для ЭРИ существуют ряд ОСТ по классам изделий. Для интегральных микросхем - РД 11 0755-90. Для полупроводниковых приборов - ОСТ 11 336.938-83 и т.д. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
negiin 0 14 июня, 2008 Опубликовано 14 июня, 2008 · Жалоба интересует именно испытание аппаратуры. Може у вас есть эти документы Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Tem@ 0 16 октября, 2008 Опубликовано 16 октября, 2008 · Жалоба Уточните: речь идет об форсированных испытаниях ЭРИ или РЭА? Для РЭА могу посоветовать РД В 319.01.11-98 "Типовые методики ускоренных испытаний на безотказность и долговечность". Для ЭРИ существуют ряд ОСТ по классам изделий. Для интегральных микросхем - РД 11 0755-90. Для полупроводниковых приборов - ОСТ 11 336.938-83 и т.д. Сейчас занимаюсь ускоренными испытаниями. Очень интерестно было бы взглянуть на РД В 319.01.11-98. Если есть у кого очень прошу дать для ознакомления. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Ильдус 2 17 октября, 2008 Опубликовано 17 октября, 2008 · Жалоба Очень интерестно было бы взглянуть на РД В 319.01.11-98. Если есть у кого очень прошу дать для ознакомления. Пожалуйста RDB01_11.pdf Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
waler 0 20 октября, 2008 Опубликовано 20 октября, 2008 · Жалоба Пожалуйста RDB01_11.pdf Ильдус-большое спасибо за РДВ -очень полезнная вещь! Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Tem@ 0 20 октября, 2008 Опубликовано 20 октября, 2008 · Жалоба Пожалуйста RDB01_11.pdf Спасибо вещь действительно ценная Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
