[Pechka 1]

Здравствуйте! Для отечественных транзисторов возникла необходимость измерения S-параметров на плате.

В наличии Network Analyzer, калибровочный кит. Собственно основной задачей считаю вычитание параметров тестовой платы (топология есть, можно в ADS или AWR вычислить все её параметры).

Каким образом это првильно сделать?

Может быть попадались статьи на этот счет или методики из инструкций к приборам?

Потенциально, можно снять транзистор и провести калибровку на открытом, замкнутом и 50 Ом варианте, но это как крайний вариант рассматривается, хотелось бы провести измерение на собраной плате, а паразиты учесть теоретически, пусть и с меньшей точностью.

Заранее спасибо!

[K0nstantin 4]

Вот тут 

И тут 

 

 

Может ещё в то же время плюс-минус были ещё похожие темы.

[Boriskae 1]

Что за транзисторы, если не секрет? Есть от Agilent Aplication note по проведению измерений в держателе. 5968-5329E_In-Fixture Measurements Using.pdf

Если нужна литература по измерению нелинейных и мощных СВЧ транзисторов, тоже могу прислать литературу. 

[Pechka 1]

Спасибо за ответы! Ушёл в изучение и испытания сходимости 🙂

Транзисторы малошумящие, поэтому мощность и линейность пока не актуальны (интересуют их измерения на малом сигнале).

[Spialv 0]

On 5/10/2023 at 1:20 PM, Boriskae said:

Если нужна литература по измерению нелинейных и мощных СВЧ транзисторов, тоже могу прислать литературу.

Будьте любезны, поделитесь.

[Boriskae 1]

On 5/15/2023 at 6:39 AM, Spialv said:

Будьте любезны, поделитесь.

 

NVNAHiPwrMeas.pdf