Jump to content
    

Журнал КИПИС (Контрольно-измерительные приборы и системы) бесплатный

Специально для наших Читателей!

image.png.429146299d2e271c59b273f95b582cf7.pngАбсолютно бесплатный доступ к выпускам журнала "Контрольно-измерительные приборы и системы" с 2016 года.

Свежий августовский номер уже доступен на сайте.

 

Читайте в рубрике «Современная измерительная техника»:

Мультиметр-калибратор процессов АКТАКОМ АМ-7113

image.png.af9242ffa33ed08161d521bc8612cac2.pngВ статье рассматривается мультиметр-калибратор процессов АКТАКОМ  АМ-7113, приводится описание уникальных функциональных возможностей калибратора (генерация стандартных и произвольных сигналов, режим имитации электронной нагрузки и др.), а также сравнительная таблица, в которой представлены основные технические характеристики мультиметров-калибраторов АКТАКОМ.

 Измерения некоторых характеристик ЭМС при тестировании приемно-передающих модулей

Лемешко Н.В. (N. Lemeshko), д.т.н., в.н.с. АО «Корпорация «Комета», Богаченков Д.А. (D. Bogachenkov), Руководитель направления ЭМС ООО «РОДЕ и ШВАРЦ РУС», Рахманов И.М. (I. Rakhmanov), Руководитель проектов ЭМС ООО «РОДЕ и ШВАРЦ РУС»

image.png.31b0fc19f412b6cfaa99eb12f2ba5b9c.pngЗначимость методов и средств обеспечения ЭМС ППМ, а также измерения её показателей в будущем будет только возрастать, а повышение общего объёма испытаний требует тщательной выверки подходов к их проведению и их разумной оптимизации. Об этом подробнее можно прочитать в настоящей статье…

Решение проблемы высокой емкости соединений измерительной схемы при тестировании маломощных МОП-транзистров

Андреа Винчи (Andrea Vinci), менеджер отдела маркетинга, Tektronix/Keithley

image.png.e1a4cb2c71877177a40903a57c05db09.pngИсследователи, ученые и инженеры сталкиваются с общими сложностями при внесении в отчёты точных электрических параметров таких полупроводниковых приборов, как специальные полевые нанотранзисторы. Более того, иногда им приходится доказывать, что они действительно способны контролировать эти параметры простым и воспроизводимым способом. Данная статья предлагает «Решение проблемы высокой ёмкости соединений измерительной схемы при тестировании маломощных МОП-транзисторов».

Четыре функции, обеспечивающие эффективный анализ цепей

image.png.742930a3c4191c8146402b19defa2a49.pngАнализаторы цепей компании Keysight серий E5080B, P50xxA и M980xA предлагают инновационные возможности и характеристики в настольном, USB и PXI форматах. Эти новые анализаторы содержат встроенные импульсные генераторы и модуляторы, анализаторы спектра и функции анализа во временной области, позволяя сэкономить время за счёт полного измерения характеристик современных устройств без дополнительного контрольно-измерительного оборудования.

Больше статей бесплатно в архиве журнала

Share this post


Link to post
Share on other sites

Join the conversation

You can post now and register later. If you have an account, sign in now to post with your account.

Guest
Unfortunately, your content contains terms that we do not allow. Please edit your content to remove the highlighted words below.
Reply to this topic...

×   Pasted as rich text.   Paste as plain text instead

  Only 75 emoji are allowed.

×   Your link has been automatically embedded.   Display as a link instead

×   Your previous content has been restored.   Clear editor

×   You cannot paste images directly. Upload or insert images from URL.

×
×
  • Create New...