[topor_topor 0]

On 12/19/2019 at 3:55 PM, Aleх said:

@MickeyMouse ATPG предназначено для проверки логики и флопов/латчей, а не памяти. И работает по другому принципу - тесты задаются не внутренним автоматом, а снаружи, с тестера. При этом, думаю, можно совместить управление MBIST со сканами: организовать для MBIST последовательный тестовый порт и подключить его к одной из цепочек. Тогда управлять MBIST можно будет задвигая/выгружая векторы с тестера. Но, я далеко не гуру в этом вопросе, лучше спросить у @topor_topor , он вроде часто чипы с DFT делает.

С Ментором нет, не работал. Мне вообще чипы с DFT почти не попадались. Избыточно это: больше места, выше потребление, и т.д. - изделие проиграет конкурентам.

Насколько знаю ATPG тулза типа Енкаунтер Тест может автоматом RAM ROM захавать но... Для того чтоби увеличить фолт кавередж остальной цифри за счет дополнительних контролируемих шин через память. Типа DOUT, DIN. 

Но ето не годится для теста самой памяти,  плюс замедляет ATPG... Потому не особо используется. 

Для памяти обично нужен спец алгоритм которий сделан в Bist блоке или просто 'в ручную' через тест порт