[EdgeAligned 86]

А закрывающий резистор на затворе разве не помогает?
Всегда надо ставить такой резистор, чтобы удерживать потенциал затвора в закрывающем состоянии. И микроконтроллер тут не при чем.

[ozforester 0]

Вроде бы не всерьёз писал, просто первый раз столкнулся с таким различием, думал что через порт выключенного МК ток не потечёт, а порты оказались разные. Или резисторы подберу, или диод добавлю, схему переделать можно по разному, Получил неожиданный опыт.

(Резистором там перетянуть не получится, ток ограничен, не суть вобщем. Схему нужно было тщательнЕе продумывать, согласен)

Изменено 15 октября, 2024 пользователем ozforester

[x893 66]

6 minutes ago, ozforester said:

Схему нужно было тщательнЕе продумывать

Или посмотреть как делают другие в рабочих вариантах

[ozforester 0]

Если что-то подобное встречается в сети, разбираюсь и учусь. Даже ограниченную информацию, нужно переварить. Типичная, наверное, проблема любителя в возрасте, который с опозданием обнаружил интерес к электронике. Значит в высокоимпедансное состояние порты переходят после включения питания, согласно состоянию регистров.

Изменено 15 октября, 2024 пользователем ozforester

[EdgeAligned 86]

Так закрывающий резистор то подключается к VSS, вот так:

 

[ozforester 0]

Короткий ответ - да. У меня закрывается p-channel. Когда стал проверять токи, обнаружил, что он притоткрыт. Ток проследился через пин к Vss. На G030 при снятом питании порт не открывается, а на F030 есть небольшой ток. Если отключить порт, мосфет закроется полностью. Это все проделалось в первые минуты после обнаружения. Затем проверка на новом из ленты микроконтролле и сравнение с другим  g030. Простые операции, чтобы статистика была ненулевая. Затем ds и вопросы. Делитель. наверное, могу так подобрать, чтобы ток через порт не мешал.  Не мешало бы осциллографом посмотреть. Понимаю, что таким током power/reset не расшевелить, но если есть осциллограф, можно просто взять и посмотреть, что есть, а чего нет.

Изменено 16 октября, 2024 пользователем ozforester

[EdgeAligned 86]

П-канальный мосфет напрямую микроконтроллером управлять не следует. Либо выбирайте так называемые "логические" мосфеты с низким напряжением открытия. Если п-канальным управляете напрямую от микроконтроллера, тогда коммутируемое напряжение не должно превышать допустимое входное напряжение пина. В противном случае нужно ставить транзисторный каскад на н-п-н биполярнике или на н-мосфете, с которого будет управляться затвор п-мосфета

 

[ozforester 0]

Да, был сначала биполярный и 5 вольт, упростил ввиду отсутствия необходимости, так как схему сделал полностью на 2х батарейках ААА. Операционники использовал mcp6001, чтобы чувствовали себя хорошо при низком питаниии, еще там ms5351 клок-генератор, тому тоже в самый раз. Стал нестраивать маленький частотомер, потребовался генератор простой, чтобы не вытаскивать ящик с проводами на стол. Стал делать генератор, получил новый опыт. (= Я по утечке тока через порт рядом отедльную тему открыл, чтобы оставить АЦП в покое, а то как бы не совсем по теме. Спасибо за советы.

p.s. в той новой теме успел про мосфет написать, еще до того как прочитал этот ответ, фотографию приложил.

Изменено 16 октября, 2024 пользователем ozforester

[nanorobot 6]

On 7/25/2017 at 10:45 AM, jenya7 said:

Есть возможность использовать откоректированное значение опорного напряжения.

 

VREFINT_CAL как я понимаю мы берем из ADC1->CALFACT

а VREFINT_DATA - откуда берем?

Тема кажется подходящей..)) Интересует возможность корректировать значения полученные от ADC в зависимости от температуры. То есть если я измеряю интересующее меня напряжение на входе ADC, значение которого "плывет" от температуры,  и одновременно иззмеряю VREFINT, значение котрого так же "плывет" при изменении температуры, я могу скорректировать полученное интересующее меня значение? Темпрература процессора процессора может меняться от комнатной и, приблизительно, до 60 цельсиев, при этом  с некоторыми экзмплярами камней F303х работа нарушается...  Вероятно у ST есть AN по этой теме?

[ozforester 0]

В рефренсе есть строчки.

"When the ADC operating conditions change (VDDA changes are the main contributor to ADC offset  variations and temperature change to a lesser extend), it is recommended to re-run a
calibration cycle"

Когда изменяются рабочие условия (изменение Vdda в большей степени, в меньшей - тепературы), рекомендуется повторить цикл калибровки.

Если без конкретики, то с AN2834 можно начать, хотя в рефренсе на 303 даже больше информации по теме.

Изменено 31 октября, 2024 пользователем ozforester

[nanorobot 6]

44 minutes ago, ozforester said:

В рефренсе есть строчки.

"When the ADC operating conditions change (VDDA changes are the main contributor to ADC offset
variations and temperature change to a lesser extend), it is recommended to re-run a
calibration cycle"

Спасибо. А следует ли из сказанного, что в измерении VREFINT отсутствует какой либо практический смысл ?

[ozforester 0]

"Мониторенье внутреннего опорного источника", часть 15.3.32 RM на F303 получится быстрее и без посредников. (=

[Сергей Борщ 158]

1 час назад, nanorobot сказал:

А следует ли из сказанного, что в измерении VREFINT отсутствует какой либо практический смысл ?

Смотря что используется в качестве опорного напряжения при таком измерении.

[nanorobot 6]

9 hours ago, ozforester said:

В рефренсе есть строчки.

"When the ADC operating conditions change (VDDA changes are the main contributor to ADC offset  variations and temperature change to a lesser extend), it is recommended to re-run a
calibration cycle"

Когда изменяются рабочие условия (изменение Vdda в большей степени, в меньшей - тепературы), рекомендуется повторить цикл калибровки.

Если без конкретики, то с AN2834 можно начать, хотя в рефренсе на 303 даже больше информации по теме.

 

Похоже в моем случае дело сильно не в этом.  Собственно, вопрос, видимо, должен звучать как то так: имеют ли место быть поддельные чипы  STM32F303CCT6? Внешне все в порядке, маркировка, фактура поверхности, все.. Но, работает (аналоговая часть, АЦП), не так как должно. В таких случаях я прежде всего предполагаю свой личный косяк, но в данном случае явно что то не так.  Устройство производится не менее пяти лет, особых проблем не было. Девайс при каждом включении выполняет самотестирование аналогового тракта- формирует воздействие ЦАПом и считывает отклик АЦП. Есть возможность запуска циклического самотестирования с отображением температуры процессора( по встроенному датчику) и результата самотестирования в виде набора битов ошибок.  Запускаем циклическое самотестирование и греем чип феном 150 С, наблюдаем рост температуры чипа, темпрература при которой происходит ошибка, фиксируется и так же отображается.  Дивайсы произведенные год или более назад фиксируют ошибку самотестирования при t > 100С, образцы из последней партии фиксируют ошибку при достижении температуры чипа 25..50 С  - опять таки по встроенному датчику.