речь идёт о принципиалной возможности.
У меня есть планаровая плата, с подключёным к ней DUT.
Я подвожу сверху 2 Probes и хочу бесконтактно измерить рефлекцию(S11)DUT.
Мои Probes подключены к VNA, и перед измерением мне надо провести калибровку, к примеру SOL-Calibration. Потом я могу производить измерения. Но это калибровка подходит только для этой конкретной платы, на какой она была произведена.
Мой вопрос: Возможно ли производить калибровку на одной плате, а производить измерения на другой. Изменяется только субстрат платы.
Буду рад любой информации.. Я думаю эта проблема довольно стандарта, поэтому должны быть какие-то решения.
Мерить то можно. Но будет погрешность в измерении КСВ.
А если подложки будут близки по параметрам с калиброванной,
то ошибка будет небольшая.
Большую роль играет частота и диапазон измерений.
Погрешности довольно большие, если есть сильная разница в субстратах.
Неподскажете где можно найти в и-нете информацию о бесконтактном измерении планарных цепей?
