Leo62 0 2 ноября, 2008 Опубликовано 2 ноября, 2008 (изменено) · Жалоба На стенде Издательского Дома "ЭЛЕКТРОНИКА" на Международной промышленной выставке "Радиоэлектроника и приборостроение" Radel (9-12 декабря 2008, Петербургский СКК, пр. Гагарина 8, ст. метро «Парк Победы», Санкт-Петербург) состоятся встречи читателей цикла статей "Основы технологии граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT)" в журнале "ПРОИЗВОДСТВО ЭЛЕКТРОНИКИ" с авторами - Ами Городецким и Леонидом Куриланом, компания StarTest www.Start-Test.com. Можно будет обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, познакомиться с примерами практической реализации современных методов тестирования электроники, а также получить в подарок "флэшку" с уже опубликованными статьями цикла. Изменено 2 ноября, 2008 пользователем Leo62 Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
