[MDD 0]

46 minutes ago, aaarrr said:

Потому что результат работы не с чем сравнивать.

Дошло, спасибо!

А если засылать каждое случайное значение в две ячейки, а затем читать их  и сравнивать между собой? Например, одну половину памяти начать заполнять снизу адресов, вторую сверху...

[mantech 53]

6 минут назад, MDD сказал:

Например, одну половину памяти начать заполнять снизу адресов, вторую сверху...

Да без разницы, хоть сверху, хоть сбоку... Посмотрите, как в тестах делается, там кроме случайных чисел еще есть определенные паттерны, чередование и т.п.  На счет макс. скорости - вы тут сами на себя капкан ставите, ибо в этой серии МК или памяти это работает на 110МГц, а в след серии, купленной через полгода - только на 100 заработает без ошибок, поэтому и берут рекомендованное производителем, пишут 90 - значит на такой частоте будет стабильно работать при любых условиях...

[MDD 0]

28 minutes ago, mantech said:

Да без разницы, хоть сверху, хоть сбоку... Посмотрите, как в тестах делается, там кроме случайных чисел еще есть определенные паттерны, чередование и т.п.  На счет макс. скорости - вы тут сами на себя капкан ставите, ибо в этой серии МК или памяти это работает на 110МГц, а в след серии, купленной через полгода - только на 100 заработает без ошибок, поэтому и берут рекомендованное производителем, пишут 90 - значит на такой частоте будет стабильно работать при любых условиях...

Я не топикстартер, я "мимо проходил" и заинтересовался деталями :)

Топикстартер в своем примере заполняет память линейно. В предложенном мной варианте тоже линейное заполнение. Но заполнять обе половины снизу вверх нежелательно. Например, если отвалится старшая линия адреса, то результат теста всегда  будет положительным. 

 

[mantech 53]

4 часа назад, MDD сказал:

Например, если отвалится старшая линия адреса, то результат теста всегда  будет положительным. 

На сколь помню, там каждая страница заполняется своим паттерном, поэтому, если что и отвалится, то сразу будет ошибка.

[jcxz 243]

7 часов назад, MDD сказал:

В теме для новичков я поинтересовался почему не подходит аппаратный RNG. Был бы благодарен Вам за развернутый ответ.

Потому что алгоритм ТС-а требует псевдослучайных значений, а не true-случайных.

[MDD 0]

1 minute ago, jcxz said:

Потому что алгоритм ТС-а требует псевдослучайных значений, а не true-случайных.

Мне уже объяснили, спасибо.

Я предложил альтернативу - заполнять две половины памяти true-случайными, а затем сравнивать их между собой.

[jcxz 243]

6 часов назад, MDD сказал:

А если засылать каждое случайное значение в две ячейки, а затем читать их  и сравнивать между собой? Например, одну половину памяти начать заполнять снизу адресов, вторую сверху...

Зачем??? Какой смысл?

Это будет:

1. Тормознее, чем с псевдослучайными значениями.

2. А если неисправность - общая для всех адресов? Ваш способ приведёт к неверному результату.

3. Нет воспроизводимости результата. А это важно при обнаружении каких-то неисправностей ОЗУ.

1 минуту назад, MDD сказал:

Я предложил альтернативу - заполнять две половины памяти true-случайными, а затем сравнивать их между собой.

Зачем?  

[MDD 0]

3 minutes ago, jcxz said:

Зачем??? Какой смысл?

Это будет:

1. Тормознее, чем с псевдослучайными значениями.

2. А если неисправность - общая для всех адресов? Ваш способ приведёт к неверному результату.

3. Нет воспроизводимости результата. А это важно при обнаружении каких-то неисправностей ОЗУ.

Зачем?  

На счет 1 не знаю, в даташиты не смотрел. Может аппаратный rnd и побыстрее софтового псевдо-rnd будет. А с 2 и 3 пожалуй соглашусь.

[jcxz 243]

4 минуты назад, MDD сказал:

Может аппаратный rnd и побыстрее софтового псевдо-rnd будет.

Я приводил вариант с использованием аппаратного CRC для генерации псевдослучайных (если программный медленный).

А тормозной Ваш вариант потому, что требует произвольного доступа к ОЗУ. Что на SDRAM, с пакетным обменом, будет значительно медленнее линейного доступа из алгоритма ТС.

Да и сам алгоритм сложнее, значит - медленнее.

[MDD 0]

Спасибо за разъяснения.

[MegaVolt 29]

Вот копия старого букварика с тестами.

Тест_ОЗУ.pdf