m.pletnev 0 8 июня, 2020 Опубликовано 8 июня, 2020 · Жалоба 6 часов назад, SNGNL сказал: Рентген, характериографы и шаолинь с маркировкой это слишком муторная хрень, для такой задачки. Всё гораздо проще: Поциент надежно крепится на операционной поверхности, любым удобным способом. Затем, на лицевой поверхности бормашинкой фрезеруется неглубокая лунка. Дно лунки аккуратно стравливается до поверхности кристалла, при помощи стеклянной пипетки с RFNA. После просмотра под мелкоскопом и сравнения вскрытых поверхностей оригинала и подозреваемого, все станет ясно. В том то и дело что не станет ясно. По крайней мере по внешнему виду видно что уже левак какой-то, и если стравливать и смотреть кристалл, то различий будет еще больше. Проблема в том, что официальной информации как должно быть, как допускается и как быть не может нет и техподдержка Texas Instruments не может помочь, т.к. купили мы ее у ООО Продаемпаленыемикросхемы. Сами для себя отсортировать конечно можно, но если уже купили, то предъявить поставщику ничего нельзя. Вечно экономия на спичках боком выходит Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться