Jump to content
    

Search the Community

Showing results for tags 'надёжность'.

  • Search By Tags

    Type tags separated by commas.
  • Search By Author

Content Type


Forums

  • Сайт и форум
    • Новости и обсуждения сайта и форума
    • Другие известные форумы и сайты по электронике
    • В помощь начинающему
    • International Forum
    • Образование в области электроники
    • Обучающие видео-материалы и обмен опытом
  • Cистемный уровень проектирования
    • Вопросы системного уровня проектирования
    • Математика и Физика
    • Операционные системы
    • Документация
    • Системы CAD/CAM/CAE/PLM
    • Разработка цифровых, аналоговых, аналого-цифровых ИС
    • Электробезопасность и ЭМС
    • Управление проектами
    • Neural networks and machine learning (NN/ML)
  • Программируемая логика ПЛИС (FPGA,CPLD, PLD)
    • Среды разработки - обсуждаем САПРы
    • Работаем с ПЛИС, области применения, выбор
    • Языки проектирования на ПЛИС (FPGA)
    • Системы на ПЛИС - System on a Programmable Chip (SoPC)
    • Methods and tools for FPGA/ASIC verification
  • Цифровая обработка сигналов - ЦОС (DSP)
    • Сигнальные процессоры и их программирование - DSP
    • Алгоритмы ЦОС (DSP)
  • Микроконтроллеры (MCU)
    • Cредства разработки для МК
    • ARM
    • RISC-V
    • AVR
    • MSP430
    • Все остальные микроконтроллеры
    • Отладочные платы
  • Печатные платы (PCB)
    • Разрабатываем ПП в САПР - PCB development
    • Работаем с трассировкой
    • Изготовление ПП - PCB manufacturing
  • Сборка РЭУ
    • Пайка и монтаж
    • Корпуса
    • Вопросы надежности и испытаний
  • Аналоговая и цифровая техника, прикладная электроника
    • Вопросы аналоговой техники
    • Цифровые схемы, высокоскоростные ЦС
    • RF & Microwave Design
    • Метрология, датчики, измерительная техника
    • АВТО электроника
    • Умный дом
    • 3D печать
    • Робототехника
    • Repair and debug
  • Силовая электроника - Power Electronics
    • Силовая Преобразовательная Техника
    • Обратная Связь, Стабилизация, Регулирование, Компенсация
    • Первичные и Вторичные Химические Источники Питания
    • Высоковольтные Устройства - High-Voltage
    • Электрические машины, Электропривод и Управление
    • Индукционный Нагрев - Induction Heating
    • Системы Охлаждения, Тепловой Расчет – Cooling Systems
    • Моделирование и Анализ Силовых Устройств – Power Supply Simulation
    • Компоненты Силовой Электроники - Parts for Power Supply Design
  • Интерфейсы
    • Форумы по интерфейсам
  • Поставщики компонентов для электроники
    • Поставщики всего остального
    • Компоненты
  • Майнеры криптовалют и их разработка, BitCoin, LightCoin, Dash, Zcash, Эфир
    • Обсуждение Майнеров, их поставки и производства
  • Дополнительные разделы - Additional sections
    • Встречи и поздравления
    • Ищу работу
    • Предлагаю работу
    • Куплю
    • Продам
    • Объявления пользователей
    • Общение заказчиков и потребителей электронных разработок

Find results in...

Find results that contain...


Date Created

  • Start

    End


Last Updated

  • Start

    End


Filter by number of...

Joined

  • Start

    End


Group


AIM


MSN


Сайт


ICQ


Yahoo


Jabber


Skype


Город


Код проверки


skype


Facebook


Vkontakte


LinkedIn


Twitter


G+


Одноклассники


Title

Found 0 results

  1. Приветствую участников форума, При внимательном изучении документации на микросхемы обнаруживается, что зачастую производитель указывает в absolute maximum ratings максимальное значение Vih = Vdd + 0.3V, а минимальное значение Vil = Vss - 0.3V. При этом, если посмотреть на формы сигналов на довольно простых интерфейсах типа I2C, I2S, SPI и т.п., как правило работающих с привычными уровнями 3.3В, то можно легко обнаружить на фронте/спаде сигналов выбросы, по величине около 0.5 В, заметно превышающие указанные производителем допустимые 0.3 В. На том же SPI тактовый сигнал обычно ещё как-то пытаются согласовать с импедансом линии и снизить тем самым величину отражений и величину выбросов. Но на остальных линиях данных попыток согласования я не видел ни разу, хотя выбросы там практически точно такие же, что и на тактовом сигнале, которые при некоторых обстоятельствах могут достигать и 0.8 ... 1.0 В. На I2C ситуация сходная, но там подобные выбросы видны, естественно, только на спаде (undershoot), зато они обычно ещё больше, чем на SPI. На вопросы о критичности подобных выбросов на форумах того же TI в основном вполне справедливо отвечают, что всё за пределами absolute maximum ratings повышает вероятность отказа и TI снимает с себя ответственность за надёжное функционирование их микросхем в подобных условиях. Некоторые производители (например Intel, Xilinx, Gowin, Cypress/Infineon и некоторые другие) дают в своих документах данные по допустимым величинам overshoot/undershoot с привязкой к длительности и частоте подобных воздействий. Для DDR SDRAM эти параметры закреплены в стандарте JEDEC. Но в целом таких документов мало и как оценить допустимость параметров работы в отдельно взятой схеме/топологии не совсем понятно. С другой стороны попадаются исследования, показывающие возможность деградации и последующего отказа КМОП-микросхем при длительной работе в условиях значительных по величине выбросов (больше 1 В) на их входных контактах. Предвосхищая предложения согласовать все проблемные линии и не морочить никому голову сразу скажу, что далеко не всегда это возможно из-за ограничений на габариты платы, при которых поставить на каждую линию по последовательному резистору попросту некуда. В связи с этим мне стало интересно, кто как решает данный вопрос в контексте обеспечения надёжного функционирования долгосрочной перспективе? Как у вас оценивается допустимость или недопустимость выбросов на линиях?
  2. Доброго времени суток! В ТЗ есть такой пункт: Вероятность обнаружения отказавшего элемента с помощью встроенной системы контроля (ВСК) должна быть не менее 0,95. Делаем изделие и внедряем в него ВСК. По сути это дополнительный микроконтроллер с резервным питанием, который опрашивает и проверяет различные внутренние параметры системы во время ее работы и выдает эту информацию через отладочный/диагностический интерфейс. И как я понял обнаружение отказа какого-либо элемента может быть произойти с некоторой вероятностью. Вопрос: как подсчитать эту вероятность обнаружения отказа? Пока не могу найти в статьях/стандартах/литературе примеры вычисления.
  3. Доброго времени суток! Есть такие требования надежности: Вероятность безотказной работы изделия в течение назначенного срока службы должна быть не ниже 0,9999 при доверительной вероятности 0,8. Испытания на надежность проводятся по программе, согласованной с Заказчиком. В расчетах надежности еще не сталкивался с доверительными оценками. Из теории нахожу, что доверительная вероятность связан с доверительным интервалом. Если я правильно понимаю, то требуемый параметр нужно будет находить/апробировать на этапе ускоренных испытаний по некоторой выборке N изделий в течение определенного периода t. Получим n(t) отказавших изделий. Таким образом, можно провести статистическую оценку вероятности безотказной работы P(t) = [N - n(t)] / N. Дальше пока не понимаю, как привязать к этой статистике доверительную вероятность... Кто-нибудь сталкивался с подобной задачей расчета/испытания? Был бы благодарен, если кто поделится опытом.
  4. Доброго времени суток! В требования по надежности есть пункт - коэффициент сохранения эффективности, не менее 0,999. Из ГОСТ 27.002-89 Коэффициент сохранения эффективности - отношение значения показателя эффективности использования объекта по назначению за определенную продолжительность эксплуатации к номинальному значению этого показателя, вычисленному при условии, что отказы объекта в течение того же периода не возникают. Коэффициент сохранения эффективности характеризует степень влияния отказов на эффективность его применения по назначению. Для каждого конкретного типа объектов содержание понятия эффективности и точный смысл показателя (показателей) эффективности задаются техническим заданием и вводятся в нормативно-техническую и (или) конструкторскую (проектную) документацию. Из ГОСТ 27.301-95 Наиболее принципиальным моментом в расчетах является оценка эффективностей системы в различных состояниях или при реализации различных траекторий в пространстве состояний, проводимая аналитически, или методом моделирования, или экспериментальным путем непосредственно на самом объекте или его натурных моделях (макетах). Предполагаю, что эффективность для каждого изделия определяется индивидуально в зависимости от задач изделия. В моем случае топ задачей изделия является коммутация и обработка видеопотоков. Т.е. я предполагаю, что эффективностью изделия будет количество реальных транзакций/коммутаций данных в единицу времени с учетом реальных характеристик/задержек по сравнению с идеальным случаем. Кто-нибудь сталкивался с задачей расчета/получения этого коэффициента, определения эффективности изделия? Был бы благодарен, если кто поделится опытом.
  5. Здравствуйте! Согласно ТЗ необходимо подтвердить показатели по долговечности: - назначенный ресурс не менее X ч; - ресурс до первого ремонта не менее X ч; - назначенный срок службы X лет; - срок службы до первого ремонта X лет; - срок службы между ремонтами X лет; показатели сохраняемости: - средний срок хранения до ввода в эксплуатацию (показатель сохраняемости) должен быть не менее X лет при хранении как в отапливаемых, так и в не отапливаемых помещениях. Данные показатели необходимо подтвердить расчетным методом. Посоветуйте методички или ГОСТы/ОСТы по данному вопросу.
  6. Здравствуйте, есть такая проблема, начал работать специалистом по надёжности и нужно произвести расчёт срока службы металлических конструкций, нужна так же методика для этих расчётов. Металлическая конструкция представляет собой решётку в виде пчелиных сот. Помогите где можно найти информацию по данной теме.
×
×
  • Create New...