Перейти к содержанию
    

Искусственное старение полупроводников

Здравствуйте.

 

Помогите, пожалуйста, может у кого есть литература или методики по проведению старения полупроводниковых приборов, полупроводников, металлов. Буду рад любой ссылке.

 

Заранее благодарен :)

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Полупроводник в составе п/п прибора искусственно состарить нереально. Более того, в начале эры полупроводников их считали вечными, и это во многом верно. Скорее всего, старятся девайсы с постоянной высокой нагрузкой (типа полупроводниковых лазеров, мощных сверхъярких светодиодов, возможно, высоковольтных устройств). Остальные отказывают не от старения, а от нарушений режимов эксплуатации, действия ионизирующего излучения и космических частиц и от проявления скрытых дефектов, внесенных на этапе изготовления. Так что испытания должны быть направлены не на старение, а на проявление скрытых дефектов. По этому поводу есть научные статьи и диссертации, но никак не нормативные документы.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

спасибо за экскурс в историю. искусственное старение создается с целью определить как долго будет работать полупроводник и при каких условиях. этот термин часто встречается в статьях. у нас есть импортная методика искусственного старения. хочется естественно получить побольше информации об этом. если есть ссылки на статьи это тоже будет здорово. еще вроде термин термоудара тоже относиться к искусственному старению.

 

Искусственное старение стабилизирует параметры прибора.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

>Искусственное старение стабилизирует параметры прибора.

Иначе говоря, выводит характеристику интенсивности отказов (у буржуев FIT bathtub curve) на плоский участок, определяемый в основном случайными отказами. Достигается технологическим прогоном оборудования. Насчет параметров прогона могу сказать, что FIT разных типов компонентов имеют разные формализованные зависимости от режимов работы, определяемых в основном током, температурой, напряжением и частотой, а отсюда можно вывести методику прогона. При расчетах я пользовался справочником "Надежность ЭРИ", издаваемым, если не ошибаюсь, 22 ЦНИИИ МО. В качестве теории неплоха книга "Practical Reliability of Electronic Equipment and Products", E.R.Hnatek.

 

Полупроводники стареют от температуры, радиации, etc. Распайка кристалла стареет от термоциклирования.

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Возможно ответ на ваш вопрос содержится в

Device Reliability Failure Models - модели расчета надежности полупроводников в ускоренных режимах.

 

Описание методики прилагаю (англ):

DRF_models.pdf

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Присоединяйтесь к обсуждению

Вы можете написать сейчас и зарегистрироваться позже. Если у вас есть аккаунт, авторизуйтесь, чтобы опубликовать от имени своего аккаунта.

Гость
Ответить в этой теме...

×   Вставлено с форматированием.   Вставить как обычный текст

  Разрешено использовать не более 75 эмодзи.

×   Ваша ссылка была автоматически встроена.   Отображать как обычную ссылку

×   Ваш предыдущий контент был восстановлен.   Очистить редактор

×   Вы не можете вставлять изображения напрямую. Загружайте или вставляйте изображения по ссылке.

×
×
  • Создать...