addi II 0 3 июня, 2016 Опубликовано 3 июня, 2016 · Жалоба Здравствуйте! Подскажите пожалуйста смысл rad hard ячеек, например http://www.microsemi.com/document-portal/d...-antifuse-fpgas Ведь при добавлении мажора в вероятности отказов одна 9 пропадает по сравнению с обычной вентильного ячейкой Какой то парадокс получается, радстойкость увеличивается, надженость уменьшается Кто знает подскажите в чем соль, заранее благодарен! Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Shivers 0 7 июня, 2016 Опубликовано 7 июня, 2016 · Жалоба Смысл такой, что чем больше оборудования, тем больше вероятность отказа. А чем больше отказов, тем ниже надежность. В то же время, мажорирование увеличивает толерантность схемы к отказам, и растет рад стойкость. Не являюсь даже близко специалистом в этой области, объяснил своими словами. Лучше спрашивать не здесь, а напрямую у специалистов: ищите научные статьи по теме, и пишите авторам. В РФ специалистов очень много. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Lerk 0 7 июня, 2016 Опубликовано 7 июня, 2016 · Жалоба Какой то парадокс получается, радстойкость увеличивается, надженость уменьшается А вы сравнивайте надежность радстойкой компонентной базы при полученной дозе N кРад против надежности обычной компонентной базы при той же дозе и все станет логично и понятно. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
addi II 0 8 июня, 2016 Опубликовано 8 июня, 2016 · Жалоба а тогда выресовыаеться связь между надежснотью и радстойкостью, где же тогда в надежности найти вероятность по радстойкости Я както заикнулся по этому поводу , написал так Pсхемы прибора = P эри*Pрезервирования компонентов схемы(радстойкость) и меня не поняли "специалисты" Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Lerk 0 8 июня, 2016 Опубликовано 8 июня, 2016 · Жалоба а тогда выресовыаеться связь между надежснотью и радстойкостью, где же тогда в надежности найти вероятность по радстойкости Я както заикнулся по этому поводу , написал так Pсхемы прибора = P эри*Pрезервирования компонентов схемы(радстойкость) и меня не поняли "специалисты" Если у вас рад. стойкая компонентная база, допустим до 300кРад, то во всем диапазоне до 300кРад вы считаете надежность по данным, указанным производителями КИМП. Если у вас не рад. стойкая КИМП, и требуется работать с дозой до 300кРад, то вам требуется провести собственные испытания по рад. стойкости компонентов и определить их надежность лично. Зачастую небольшую дозу держит почти все, а вот уже 50кРад гарантированно выведут ваше устройство из строя. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
addi II 0 8 июня, 2016 Опубликовано 8 июня, 2016 · Жалоба Если у вас рад. стойкая компонентная база, допустим до 300кРад, то во всем диапазоне до 300кРад вы считаете надежность по данным, указанным производителями КИМП. Если у вас не рад. стойкая КИМП, и требуется работать с дозой до 300кРад, то вам требуется провести собственные испытания по рад. стойкости компонентов и определить их надежность лично. Зачастую небольшую дозу держит почти все, а вот уже 50кРад гарантированно выведут ваше устройство из строя. че та я не уловлю никак, получается как никрути при увеличении радстойкости методом структурной избыточности, надежность экспонентоциально уменьшается..... Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться