Jump to content
    

Инженер-конструктор в проект по разработке мощного ИИП (удалённо, РФ)

Just now, Alex-lab said:

 

Это индикатор либо низкого качества (не соответствие стандартам), либо выхода за допустимые пределы устройства.

практически все индикаторы, с использованием HD44780 слетали при любых тестах на эмс. если приходилось использовать ,  то я тупо раз в пару минут его перегружал. 

если были тяжелые условия по эмс ,  то менялась схемотехника устройства с процессором. помимо аккуратной разводки. 

Share this post


Link to post
Share on other sites

6 minutes ago, firstvald said:

практически все индикаторы, с использованием HD44780 слетали при любых тестах на эмс

И это не должно вызывать удивления, ибо этот контроллер "developed by Hitachi in the 1980s", то есть до повсеместного внедрения тестов на имьюнити и т.п. Он и не должен работать.

Share this post


Link to post
Share on other sites

16 минут назад, Alex-lab сказал:

Это абсурд

Я не имел в виду, что более "крупный" техпроцесс – панацея от всех бед. Возможно, некорректно выразился. Так-то конечно, если вход подвергается таким воздействиям, что кристалл повреждается, тут уж без разницы какой там процесс, с этим не поспоришь. При этом:

26 минут назад, Alex-lab сказал:

Все чипы выходят из строя по входам

справедливо только на кратко/средне-срочной перспективе, по моему мнению. Transistor aging никто не отменял [1, 2], и в современных полупроводниковых приборах это составляет вполне себе проблему. Общеизвестный пример – память (MLC NAND, но не только она), выходит из строя не по входам, а вполне себе изнашивается "изнутри".

Наконец из практики ремонта складывается впечатление (да и не у меня одного, в общем-то), что старые устройства переживают куда более серьёзные издевательства с куда большей выживаемостью, нежели новые; либо, с другой стороны, служат гораздо дольше при отсутствии издевательств.

Share this post


Link to post
Share on other sites

45 минут назад, firstvald сказал:

практически все индикаторы, с использованием HD44780 слетали при любых тестах на эмс

Не слетают, если подключены не прямо к процу ( надеюсь он силой не управляет в РТ) а через изолированный RS 485 или CAN  поэтому со своим мелким процом типа атмеги и питается через DC-DC развязку на своей плате, а не по кабелю. Это случай когда дисплей надо выносить на переднюю панель, а основной контроллер внутри силового модуля глубоко спрятан.

Внутренне старение- это проблема памяти логов силы. То что 10 лет назад казалось надежным, после эксплуатации заставляет волосы дыбом вставать. Если только не приводит к отказам по причине невозможности писать лог. А вот сами контроллеры обычно сбоят при аварийной ситуации и не всегда потом понятно что было первопричиной-  сбой проца или внешний силовой глитч ( внутренний или внешний)- потом в этих угольках разбираться приходится.

Share this post


Link to post
Share on other sites

15 минут назад, flexits сказал:

Наконец из практики ремонта складывается впечатление (да и не у меня одного, в общем-то), что старые устройства переживают куда более серьёзные издевательства с куда большей выживаемостью, нежели новые; либо, с другой стороны, служат гораздо дольше при отсутствии издевательств.

Это эффект "ошибка выжившего". Когда старые были новыми, они мёрли может даже чаще, чем сейчас. Но прошёл "естественный отбор" и сейчас вы из всех "старых" наблюдаете только его победителей - самых приспособленных, сильных. Так как остались только они. Кто же вспомнит миллион сдохших ранее? И сравниваете их с новыми, которые отбор ещё не прошли. Естественно - последние выглядят слабее.

Но пройдёт столько же лет, как со времён старых, и каков результат будет тогда?

17 минут назад, flexits сказал:

складывается впечатление (да и не у меня одного, в общем-то), что старые устройства переживают куда более серьёзные издевательства с куда большей выживаемостью

Видимо забыли старые МОП-микросхемы, которые дохли просто от неосторожного касания. А вот за последнее время - я что-то не помню ни одного такого случая с современными чипами.

Так что - субъективные у вас впечатления....

Share this post


Link to post
Share on other sites

51 минуту назад, jcxz сказал:

сейчас вы из всех "старых" наблюдаете только его победителей - самых приспособленных, сильных

Я работаю в сервисе. "Победители" сюда не попадают, к нам приносят "побеждённых" 😉 И поскольку я в этой сфере далеко не первый день, я могу ретроспективно примерно прикинуть, в каком состоянии приходили эти "побеждённые", скажем, десять лет назад - и сейчас, каковы были масштабы повреждений и что требовалось для "реанимации". Речь не идёт о сравнении старого и нового устройства, эксплуатируемых по сей день. 

1 час назад, jcxz сказал:

пройдёт столько же лет, как со времён старых, и каков результат будет тогда?

То, что есть сейчас, в основной своей массе просто не проживёт столько, сколько прожило то, старое, к нынешнему времени. Вот такой и будет результат.

В силовой электронике это не так заметно, поскольку, как подметил Alex-lab, обычно там причины внешние. Зато хорошо заметно в компьютерной технике. 20 лет назад ситуация, чтоб просто на ровном месте при нормальной эксплуатации умер CPU, была нонсенсом. 10 лет назад начали так умирать GPU. Сейчас никого не удивить ни первым, ни вторым; в ремонтных мастерских это всё меняют пачками. Обратите внимание, я не говорю об экстриме – разгон, майнинг, и так далее. 

1 час назад, jcxz сказал:

субъективные у вас впечатления

Разумеется это субъективщина. Но тенденция тем не менее имеет место быть. 

Share this post


Link to post
Share on other sites

13 минут назад, flexits сказал:

Я работаю в сервисе...

Каждый должен заниматься своим делом! :wink3:

Share this post


Link to post
Share on other sites

1 час назад, quаrk сказал:

Каждый должен заниматься своим делом!

Я и занимаюсь 

Share this post


Link to post
Share on other sites

8 hours ago, jcxz said:

Видимо выбрали неподходящий МК. Или схему его включения в силовую часть.

Управляю довольно мощными двигателями с МК - токи могут быть >1000А, напряжения тоже приличные - до ~900В. Быстродействие АЦП ненамного выше. Но при чём тут быстродействие АЦП?

Есть внешний драйвер ключей, который генерит fault-сигнал (при превышениях тока). Этот fault поступает на ногу МК, на которой выбрана функция аппаратного FAULT-а для ШИМ-ов внутри МК. Которая отключает все ШИМ-ы почти мгновенно - в тот же такт тактовой МК (144МГц). АЦП тут совсем не при чём.

 

Если же вы сами же построили систему так, что реакция на аварийную ситуацию зависит от длительной программной обработки (а потом ещё и багов в программе наделали, не отладив толком) - то кто же вам виноват??? кроме самого себя?

 

PS: Видимо как раз тот случай, который обсуждается сейчас в другой теме - "программист застрял на Атмеге и не хочет осваивать новые МК, более подходящие задаче". Вот и результат соответствующий.  :unknw:

Кто-то на Атмеге застревает, кто-то - на STM32, а кто-то - вообще на абдурине. Результат всегда один - ограниченность мышления и ограниченность в спектре применяемого инструментария.

Оскорбления не принимаются. Проблема с МК AT2313 была 20 лет назад и на тот момент технической возможности как вы описываете не было. 

Share this post


Link to post
Share on other sites

Join the conversation

You can post now and register later. If you have an account, sign in now to post with your account.

Guest
Reply to this topic...

×   Pasted as rich text.   Paste as plain text instead

  Only 75 emoji are allowed.

×   Your link has been automatically embedded.   Display as a link instead

×   Your previous content has been restored.   Clear editor

×   You cannot paste images directly. Upload or insert images from URL.

×
×
  • Create New...