реклама на сайте
подробности

 
 
 
Reply to this topicStart new topic
> вандер в E1, методика измерения TIE
winipuh
сообщение Apr 30 2013, 23:03
Сообщение #1


Частый гость
**

Группа: Участник
Сообщений: 127
Регистрация: 31-10-12
Пользователь №: 74 189



Вечер добрый! sm.gif
Прочитал ITU-T O.171, O.172, G.823, погуглил... Нужной инфы найти чего-то не получается...
Прикрепленное изображение

Какой вариант правильнее?
Если исходить из того, что цифровой фазовый детектор в принципе только измеряет интервал времени между фронтами сигналов, то получается первый вариант.
Однако диапазон tie может быть приличным - 2 мкс, например, это уже 4 бита, а надо бы побольше. И тут сложность возникает - например на первом рисунке начали измерять интервал времени от фронта №7 опорного сигнала до фронта №7 измеряемого, измерить еще не успели, а уже у опорного сигнала уже появился фронт №8 и т.д. Такая своего рода очередь образуется... sm.gif Реализовать вроде бы можно, но как-то сложно получается... К тому же еще одно сомнение возникает - а очередной измеренный сымпл tie считается "полученным" в момент соответствующего фронта опорного сигнала? Даже если на самом деле его измерили позже?
А во втором варианте вроде бы все хорошо, но моменты измерения привязаны к фронтам измеряемого сигнала. А в теории вроде должен быть фиксированный интервал между выборками...
Может я чего-то не понимаю?

И еще момент - по Котельникову получается что TIE нужно по каждому фронту вычислять, а потом пропускать результат через ФНЧ с частотой среза 10 Гц и даунсэмплить до 20-30 отсчетов в секунду. Так обычно и делают?

p.s. Мне не нужно в реалтайме обсчитывать MTIE и TDEV (надо будет - на комп результаты сброшу). Так что на этот момент внимание пожалуйста не обращайте. sm.gif Мне только по измерению TIE чего-нибудь посоветуйте.
Go to the top of the page
 
+Quote Post

Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 17th December 2017 - 19:39
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01275 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016