Ok,cпс,буду иметь ввиду. В проекте с которым я разбираюсь скан-цепочки реализованны вручную, изначально для производственного тестирования использовались тестовые вектора сгенерированные из функциональных тестов,сейчас же с помощью ТетраМакс получилось сгенерировать тетсовые вектора более высокого уровня покрытия,и уже ети тестовые вектора будут использоваться для дальнейшего тестирования. Информацию ищу фактически любую,что по ДФТ,что по генерации векторов - ибо на данный момент кроме того что етот проект надо завершить, у меня дипломная работа на эту же тематику.
Создание вручную скан-цепочек было обусловленно попыткой сэкономить место на кристале при синтезе,а так же ввиду использования SPI интерфейса для тестирования,который изначально существует на чипе(то бишь избежать дополнительных пинов и использование JTAG-интерфейса).
Примерно как то так:)
