Тогда, в Вашем случае, придется относится к устойству как к «черному ящику», и писать тесты на ATE пользуясь лишь поведенческой моделью. Для ПЛИС можно было бы сгенерировать тесты из САПР, память сравнивать с прошивкой. Но и тогда это не будет 100 % тестовым покрытием, т.к. не будет перебора всех возможных комбинаций. Сконцентрируйтесь на измерении электрических параметров, измерьте ток потребления в различных режимах работы, сравните полученные значения по партии Ваших устройств.
