mobius

думаю виноват загрузчик, может что с настройкой проца там не так. Прога которую грузите в каком формате во флешь лежит ... если можно подробней ....

Подскажите как прикрутить к TMS320C5509 параллельную память размером больше 8k слов, и загрузиться с нее , проц в LQFP 144

ВСЕМ СПАСИБО!!!!!! :cheers: ВСЕ ЗАРАБОТАЛО, :) ОСТАЛОСЬ ПОДРУЖИТЬ ИХ С 3.1 (но это скорей проблема моей версии композера ).

ОЙ И ЕЩЕ НА посдедней версии (та что на сахаре лежит ) прошивки для EP1K50 я вижу вот такое интересное сообщение c:\ti\cc\bin>xdsprobe.exe -y ---[Test the emulator's JTAG controller]------------------------ ---[An error has occurred and this utility has aborted]--------- This error is generated by TI's USCIF driver. The error's value is: `-200'. The error's title is: `SC_ERR_CTL_TBC_REVISION'. The error's explanation is: The revision number of the TBC/TBC-XL in the controller is invalid. The only valid revision numbers are 0x1 and 0x2, which are used by production TBC's and production TBC-XL's respectively. The invalid revision number of 0x0 indicates a prototype TBC that is no-longer supported. The prototype TBC's were only used in very old C30 EVM cards and very old XDS510 emulators. The customer should purchase a new card or emulator. ВОТ ТАК .....

все проверил ... даже кабели сделал минимальной длины 20см LVDS и 6 см до отладочной платы !!!! ДВЕ КОПИИ ЭМУЛЯТОРА ВЕДУТ СЕБЯ ДИНАКОВО , МОЖЕТ КТО ЧТО ПОСОВЕТУЕТ , !!!

понятно , завтра буду осциллографом смотреть , может что увижу ... :) платы были сделаны давно еще первых версий ...(как бы не самой первой) глюков разводки там не было замечено ?? (та версия в которой питание и земля микросхем LVDS на поде висят в " воздухе " ) еще раз спасибо ...

можно тогда еще вопросик , в файле board.cfg по мимо строки [POD_DRVR] 'sm510dvr.dll' надо еще что прописывать ?? и еще что значат тесты Perform the scan-path integrity test on the JTAG DR и Perform the scan-path integrity test on the JTAG IR и сами значения например "Starting an Integrity Test using 0x01FC1F1D" это последовательности данных для тестирования JTAG цепочки ?? или еще что то ... то ведь у меня не проходит тест 0xAACC3355 причем всегда со 100% потерями .. и возвращаемые данные всегда одинаковые, не похоже на плохие фронты .... Заранее спасибо !!!!

Спасибо буду пробовать .... я имел ввиду резисторы 180 / 270 , вы наверно подумали про те что в цепях TCK

3) Любой какой нравится, такой и ставьте. Не забывая пропорционально пересчитать частоту TCK. СОРРИ если можно подробнее насчет пересчета частоты... с отключенными резисторами на поде тест проходит с меньшими ошибками , в чем тут дело ?? кабель LVDS c витыми парами , длина 1,5 метра , не много ли ?? ОЙ забыл , для тестирования использую отладочную плату 5509a от Spectrum Digital

если не трудно скажите резисторы 270/180 какие функции выполняют , не большая ли это нагрузка для плис?? влияет ли качество соединительного кабеля между подом и платой эмулятора ?? возможно ли ставить на плату пода кварц на 50Мгц ??

ПОСЛЕ СБОРКИ SM510 Тест проходит вот с таким результатом Помогите разобраться в чем дело !!!!!! c:\ti\cc\bin>xdsprobe.exe -i ---[The scan-path lengths of TI DSP's and microcontrollers]----- The JTAG IR register for a ARM7 or ARM9 device has 4 bits. The JTAG IR register for a `classic' TI DSP device has 8 bits. The JTAG IR register for a `IceMaker' TI DSP device has 38 bits. The JTAG IR register for a C621x or C671x device has 46 bits. The older TI DSP devices with `classic' emulation include the C4x, C5x, C8x, C20x, C24x products. The newer TI DSP devices with `classic' emulation include the VC33, C54x, C620x and C670x products. The TI DSP devices with `IceMaker' emulation include the C27x, C28x, C55x and C64x products. ---[Perform the scan-path length test on the JTAG IR and DR]---- The test for the JTAG IR instruction scan-path length succeeded. The JTAG IR instruction scan-path length is 38 bits. The test for the JTAG DR bypass scan-path length succeeded. The JTAG DR bypass scan-path length is 1 bits. The scan-path appears to consist of just one device. If the scan-path consists of only TI DSP chips, TI ARM cores and TI micro-controllers, or 8-bit long bypassed devices, then the measured lengths indicate that both the link-delay and scan-path are configured correctly. ---[Perform the scan-path integrity test on the JTAG IR]-------- This scan-path test uses blocks of 512 32-bit words. Starting an Integrity Test using 0xFFFFFFFF. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0x00000000. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0xFE03E0E2. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0x01FC1F1D. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0x5533CCAA. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0xAACC3355. Word 0: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x0C1AF9EC. Word 1: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x0C1AF9EC. Word 2: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x0C1AF9EC. Word 3: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x0C1AF9EC. Word 4: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x0C1AF9EC. Word 5: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x0C1AF9EC. Word 6: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x0C1AF9EC. Word 7: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x0C1AF9EC. The details of the first eight errors have been provided. The utility will not report further errors found by this test. Some of the 32-bit data values were corrupted - 100.0 percent. Finished that Integrity Test. The JTAG IR integrity test has failed. ---[Perform the scan-path integrity test on the JTAG DR]-------- This scan-path test uses blocks of 512 32-bit words. Starting an Integrity Test using 0xFFFFFFFF. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0x00000000. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0xFE03E0E2. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0x01FC1F1D. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0x5533CCAA. All of the 32-bit data values were scanned correctly. Finished that Integrity Test. Starting an Integrity Test using 0xAACC3355. Word 0: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x835F3D81. Word 1: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x835F3D81. Word 2: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x835F3D81. Word 3: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x835F3D81. Word 4: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x835F3D81. Word 5: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x835F3D81. Word 6: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x835F3D81. Word 7: scanned out 0xAACC3355 and scanned in 0x835F3D81. The details of the first eight errors have been provided. The utility will not report further errors found by this test. Some of the 32-bit data values were corrupted - 100.0 percent. Finished that Integrity Test. The JTAG DR integrity test has failed.

по какому интерфейсу вы пытаетесь его настраивать I2C ИЛИ SPI ??

Добрый день !! кто знает IMBE (for P25) отзовитесь !!

да все оно так , только с плисками я не работаю , а решил сделать JTAG для TMS, вот и не хочеться ждать конфигуратор очень долго , но наверно прейдеться , тогда вопрос AT17 конфигуратор для EP1K30 , думаю не плохое решение ?? или нет ??

ЗНАЮ , только вот проблемма комплектация уже есть , а ждать новый конфигуратор минимум 2 недели .... :(