На стенде Издательского Дома "ЭЛЕКТРОНИКА" на Международной промышленной выставке
"Радиоэлектроника и приборостроение" Radel (9-12 декабря 2008, Петербургский СКК,
пр. Гагарина 8, ст. метро «Парк Победы», Санкт-Петербург) состоятся встречи читателей цикла
статей "Основы технологии граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT)" в журнале "ПРОИЗВОДСТВО ЭЛЕКТРОНИКИ" с авторами - Ами Городецким и Леонидом Куриланом, компания StarTest www.Start-Test.com. Можно будет обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, познакомиться с примерами практической реализации современных методов тестирования электроники, а также получить в подарок "флэшку" с уже опубликованными статьями цикла.