d1n1s 0 7 сентября, 2011 Опубликовано 7 сентября, 2011 · Жалоба Здравствуйте. В звязи с плановым "переворужением" начинки контроллеров встала задача оценить переход с парраллельной шины на LVDS(шина между модулями контроллера). Суть в том что бы на уже имеющихся криэйтах(LVDS линия заложена) и заданном конструктиве исследовать LVDS шину, в частности максимальную пропускную способность. Вопрос в том, какое оборудование использовать для исследования? Первое, что приходит в голову это собрать тестовые модули на ПЛИСке погонять данные между модулями и набрать статистику по ошибкам транспортировки данных. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
maugli 0 8 сентября, 2011 Опубликовано 8 сентября, 2011 · Жалоба Почитайте здесь http://electronix.ru/forum/index.php?showt...st&p=710926 Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться