Jump to content

    

Искусственное старение полупроводников

Recommended Posts

howlet

Здравствуйте.

 

Помогите, пожалуйста, может у кого есть литература или методики по проведению старения полупроводниковых приборов, полупроводников, металлов. Буду рад любой ссылке.

 

Заранее благодарен :)

Share this post


Link to post
Share on other sites

V_G

Полупроводник в составе п/п прибора искусственно состарить нереально. Более того, в начале эры полупроводников их считали вечными, и это во многом верно. Скорее всего, старятся девайсы с постоянной высокой нагрузкой (типа полупроводниковых лазеров, мощных сверхъярких светодиодов, возможно, высоковольтных устройств). Остальные отказывают не от старения, а от нарушений режимов эксплуатации, действия ионизирующего излучения и космических частиц и от проявления скрытых дефектов, внесенных на этапе изготовления. Так что испытания должны быть направлены не на старение, а на проявление скрытых дефектов. По этому поводу есть научные статьи и диссертации, но никак не нормативные документы.

Share this post


Link to post
Share on other sites

howlet

спасибо за экскурс в историю. искусственное старение создается с целью определить как долго будет работать полупроводник и при каких условиях. этот термин часто встречается в статьях. у нас есть импортная методика искусственного старения. хочется естественно получить побольше информации об этом. если есть ссылки на статьи это тоже будет здорово. еще вроде термин термоудара тоже относиться к искусственному старению.

 

Искусственное старение стабилизирует параметры прибора.

Share this post


Link to post
Share on other sites

dlwest

>Искусственное старение стабилизирует параметры прибора.

Иначе говоря, выводит характеристику интенсивности отказов (у буржуев FIT bathtub curve) на плоский участок, определяемый в основном случайными отказами. Достигается технологическим прогоном оборудования. Насчет параметров прогона могу сказать, что FIT разных типов компонентов имеют разные формализованные зависимости от режимов работы, определяемых в основном током, температурой, напряжением и частотой, а отсюда можно вывести методику прогона. При расчетах я пользовался справочником "Надежность ЭРИ", издаваемым, если не ошибаюсь, 22 ЦНИИИ МО. В качестве теории неплоха книга "Practical Reliability of Electronic Equipment and Products", E.R.Hnatek.

 

Полупроводники стареют от температуры, радиации, etc. Распайка кристалла стареет от термоциклирования.

Share this post


Link to post
Share on other sites

i-mir

Возможно ответ на ваш вопрос содержится в

Device Reliability Failure Models - модели расчета надежности полупроводников в ускоренных режимах.

 

Описание методики прилагаю (англ):

DRF_models.pdf

Share this post


Link to post
Share on other sites

Join the conversation

You can post now and register later. If you have an account, sign in now to post with your account.

Guest
Reply to this topic...

×   Pasted as rich text.   Paste as plain text instead

  Only 75 emoji are allowed.

×   Your link has been automatically embedded.   Display as a link instead

×   Your previous content has been restored.   Clear editor

×   You cannot paste images directly. Upload or insert images from URL.