howlet 0 Posted August 18, 2010 · Report post Здравствуйте. Помогите, пожалуйста, может у кого есть литература или методики по проведению старения полупроводниковых приборов, полупроводников, металлов. Буду рад любой ссылке. Заранее благодарен :) Quote Ответить с цитированием Share this post Link to post Share on other sites More sharing options...
V_G 0 Posted August 18, 2010 · Report post Полупроводник в составе п/п прибора искусственно состарить нереально. Более того, в начале эры полупроводников их считали вечными, и это во многом верно. Скорее всего, старятся девайсы с постоянной высокой нагрузкой (типа полупроводниковых лазеров, мощных сверхъярких светодиодов, возможно, высоковольтных устройств). Остальные отказывают не от старения, а от нарушений режимов эксплуатации, действия ионизирующего излучения и космических частиц и от проявления скрытых дефектов, внесенных на этапе изготовления. Так что испытания должны быть направлены не на старение, а на проявление скрытых дефектов. По этому поводу есть научные статьи и диссертации, но никак не нормативные документы. Quote Ответить с цитированием Share this post Link to post Share on other sites More sharing options...
howlet 0 Posted August 18, 2010 · Report post спасибо за экскурс в историю. искусственное старение создается с целью определить как долго будет работать полупроводник и при каких условиях. этот термин часто встречается в статьях. у нас есть импортная методика искусственного старения. хочется естественно получить побольше информации об этом. если есть ссылки на статьи это тоже будет здорово. еще вроде термин термоудара тоже относиться к искусственному старению. Искусственное старение стабилизирует параметры прибора. Quote Ответить с цитированием Share this post Link to post Share on other sites More sharing options...
dlwest 0 Posted August 18, 2010 · Report post >Искусственное старение стабилизирует параметры прибора. Иначе говоря, выводит характеристику интенсивности отказов (у буржуев FIT bathtub curve) на плоский участок, определяемый в основном случайными отказами. Достигается технологическим прогоном оборудования. Насчет параметров прогона могу сказать, что FIT разных типов компонентов имеют разные формализованные зависимости от режимов работы, определяемых в основном током, температурой, напряжением и частотой, а отсюда можно вывести методику прогона. При расчетах я пользовался справочником "Надежность ЭРИ", издаваемым, если не ошибаюсь, 22 ЦНИИИ МО. В качестве теории неплоха книга "Practical Reliability of Electronic Equipment and Products", E.R.Hnatek. Полупроводники стареют от температуры, радиации, etc. Распайка кристалла стареет от термоциклирования. Quote Ответить с цитированием Share this post Link to post Share on other sites More sharing options...
i-mir 0 Posted August 18, 2010 · Report post Возможно ответ на ваш вопрос содержится в Device Reliability Failure Models - модели расчета надежности полупроводников в ускоренных режимах. Описание методики прилагаю (англ): DRF_models.pdf Quote Ответить с цитированием Share this post Link to post Share on other sites More sharing options...
howlet 0 Posted August 18, 2010 · Report post Спасибо, сейчас посмотрим Quote Ответить с цитированием Share this post Link to post Share on other sites More sharing options...
