Jump to content

    
Sign in to follow this  
kovalchuk_i_v

алгоритм тестирования NAND-флеш

Recommended Posts

Стоит задача протестировать микросхему NAND-флешь на серийно выпускаемом устройстве.

Устройство работает на ucLinux, флеш NAND512W3AOAN6, с файловой системой YAFFS.

Столкнулся с тем, что при работе, некоторые микросхемы полностью покрываются BAD-секторами.

 

Сейчас тестирую таким образом:

1) создаётся файл.

2) в файл записывается 1МБ данных.

3) в позицию P1 файла пишется S1, байт.

4) из позиции P2 файла читается S2, байт.

5) goto 3.

Числа P1, P2, S1, S2 - случайные.

 

Попалась такая микросхема, которая при работе покрывается bad-секторами, а при тестировании - нет.

В чем может быть мой просчёт?

Как построить алгоритм теста, чтобы он максимально эффективно выявлял проблемные NAND-флешь?

Share this post


Link to post
Share on other sites

Join the conversation

You can post now and register later. If you have an account, sign in now to post with your account.

Guest
Reply to this topic...

×   Pasted as rich text.   Paste as plain text instead

  Only 75 emoji are allowed.

×   Your link has been automatically embedded.   Display as a link instead

×   Your previous content has been restored.   Clear editor

×   You cannot paste images directly. Upload or insert images from URL.

Sign in to follow this