APEHDATOP 0 7 сентября, 2018 Опубликовано 7 сентября, 2018 · Жалоба Обычно при расчетах делаю нужные мониторы, потом новую папку в 1D Results и ручками туда перетаскиваю то, что нужно. А что, это можно автоматизировать? Да точно также, только "нужные мониторы" в 2018 без SP не работают (нельзя изменить дефолтные настройки)... Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Andrew10 0 23 октября, 2018 Опубликовано 23 октября, 2018 · Жалоба Добрый день всем! Возник вопрос, наверное уже здесь обсуждался, но я что-то поиском не нашел. Всегда считал, что в CST Studio Suite (включая и Particle Studio) для расчетов в Time Domain области используется метод FIT (Finite Integration Techniques) или TLM. А сейчас в одной диссертации наткнулся на утверждение, что в Particle Studio PIC -solver базируется на FDTD. Так ли это? Спасибо! Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Yuri Potapoff 0 12 ноября, 2018 Опубликовано 12 ноября, 2018 · Жалоба В 23.10.2018 в 16:02, Andrew10 сказал: Добрый день всем! Возник вопрос, наверное уже здесь обсуждался, но я что-то поиском не нашел. Всегда считал, что в CST Studio Suite (включая и Particle Studio) для расчетов в Time Domain области используется метод FIT (Finite Integration Techniques) или TLM. А сейчас в одной диссертации наткнулся на утверждение, что в Particle Studio PIC -solver базируется на FDTD. Так ли это? Спасибо! Что мне сказал наш инженер: Схема расчета Particle-In-Cell была разработана достаточно давно (в 50-х) и основывалась на методе конечных разностей.Т.е. устверждение, что метод Particle-In-Cell основан на FDTD в общем случае будет верно. Метод FIT является логическим продолжением FDTD, которое позволяет избавиться от лестничной аппроксимации границ объектов моделирования. В CST PIC-модуль работает на основе FIT и использует все его преимущества. И TLM там никаким боком Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Tetta 0 18 ноября, 2018 Опубликовано 18 ноября, 2018 · Жалоба Добрый вечер инженеры! Стоит задача в определении электромагнитной совместимости двух усилителей мощности, находящиеся на одной плате. Топология нарисована, промоделирована. Моделировал в MWO AWR. Так же имеются s параметры усилителей. Результаты получились хорошие, без каких либо явных наличай электромагнитной несовместимости. В реальной плате наблюдается нестабильное состояние усилителя. Подскажите пожалуйста, как провести электромагнитную совместимость в cst с учётом пассивных и активных компонентов? Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
AndrewKС 0 23 ноября, 2018 Опубликовано 23 ноября, 2018 · Жалоба Здравствуйте! Моделирую установку для измерения диэлектрических резонаторов. Измерение производится с помощью двух зондов и расположенных между ними резонатора. При моделировании частотным методом на резонансной частоте в S21 возникает очень узкий пик с значением в вершине около 0 db, что в принципе невозможно в используемой модели. Существует ли какая-то нормировка s параметров относительно самого высокого значения s21? Заранее спасибо. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
ser_aleksey_p 0 23 ноября, 2018 Опубликовано 23 ноября, 2018 · Жалоба В модели может быть все что угодно - наверно потери забыли учесть. Делали как-то нам подобную работу. Суть ее: при некотором минимальном расстоянии между зондами и резонатором фиксируют максимальный коэффициент передачи. Затем зонды раздвигают так, чтобы коэффициент передачи уменьшился минимум на 30 дб (зонд не влияет на резонатор). Теперь можно измерять параметры резонатора. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
TitovVN1974 0 12 декабря, 2018 Опубликовано 12 декабря, 2018 · Жалоба Интересно, есть ли возможность переключения между fp32 и fp64 ? Или хотя бы проконтролировать что используется ? Просто доступна система с несколькими K10 ... Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
XEPTOR 0 12 декабря, 2018 Опубликовано 12 декабря, 2018 · Жалоба Здравствуйте, уважаемые форумчане! Пожалуйста, подскажите, как средствами CST создать PEC поверхность по массиву координатных точек? Не удалось мне найти в ранее рассмотренных на форуме темах даже намёка на подход к решению этой задачи. Видимо, так и не научился правильно формулировать запросы. Удачи всем в предновогодних хлопотах, здоровья и благополучия в наступающем 2019 и на все оставшиеся лета Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
yurik82 17 13 декабря, 2018 Опубликовано 13 декабря, 2018 · Жалоба 19 часов назад, Xeptor сказал: как средствами CST создать PEC поверхность по массиву координатных точек? в HFSS рисуется Polyline, поочередно все свои координатные точки соединяете отрезками. Нарисовали отрезок x1,y1,z1->x2,y2,z2, потом следующий сегмент "Add segment after/before" и до x3,y3,z3. Должен получиться замкнутый многоугольник. Потом сделать CoverLines. Сработает только при условии что многоугольник получился в одной плоскости (иначе выдаст ошибку). Потом сделать ThickenSheet (нарастить толщину для плоскости). Получится уже объемная фигура. Присвоить материал PEC Думаю что в CST делается так же, может названия пунктов меню чуть по другому называются Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
dabbler 0 13 декабря, 2018 Опубликовано 13 декабря, 2018 · Жалоба 22 hours ago, Xeptor said: Пожалуйста, подскажите, как средствами CST создать PEC поверхность по массиву координатных точек? Сделайте это в пакете, который под такие задачи и придуман, например в Rhinoceros (Rhino). Потом импортируете. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
XEPTOR 0 13 декабря, 2018 Опубликовано 13 декабря, 2018 · Жалоба Благодарю, коллеги, за отклик! Однако при больших "электрических" размерах поверхности и необходимости возможно более полного учёта особенностей "рельефа", задача об определении отражающих свойств этой поверхности с использованием описанного Вами способа, насколько я представляю, неподъёмна. Как Вы считаете, уважаемый yurik82? Подход, рекомендованный в предыдущем посте уважаемым dabbler, видимо, более практичен. Если бы ещё легко и просто осваивался новый (для меня) Soft. И всё же, инструментарий CST настолько обширен, что скорее всего, и в нём есть то, что нужно для этой задачи. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
yurik82 17 13 декабря, 2018 Опубликовано 13 декабря, 2018 · Жалоба Это плоскости или кривые? Импорт готовых 3D объектов хорош только если его форма задана и известна, а не его надо Вам разработать (оптимизировать) с помощью CST Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
XEPTOR 0 17 декабря, 2018 Опубликовано 17 декабря, 2018 (изменено) · Жалоба Вы верно отметили, уважаемый yurik82, что использование сторонних приложений, порой, ограничивает использование функционала, предоставленного основной программой. В данной задаче меня интересуют отражающие свойства (диаграмма направленности) гладкой рандомизированной поверхности второго порядка. Изменено 17 декабря, 2018 пользователем Xeptor Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
andysek 0 4 января, 2019 Опубликовано 4 января, 2019 · Жалоба Скажите, можно в CST создать рисунок с данными из двух источников (E-Field , H-Field) , конкретно вектора E и Н в двух перпендикулярных плоскостях. для студентов Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
yurik82 17 5 января, 2019 Опубликовано 5 января, 2019 · Жалоба 15 часов назад, andysek сказал: Скажите, можно в CST создать рисунок с данными из двух источников (E-Field , H-Field) , конкретно вектора E и Н в двух перпендикулярных плоскостях. для студентов https://www.youtube.com/watch?v=NLIB546axw4 https://youtu.be/c_IUic_oatY?t=598 Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
