[Damyen 0]

Если нужно посчитать надежность устройства, то нужно складывать параметры FIT всех компонентов. FIT это количество отказов за миллиард часов. Но где брать этот параметр FIT ? Сколько даташитов на компоненты не посмотрел, его нигде не нашел. Величина, обратная FIT - MTTF, но ее тоже нигде нет.  Может ее не во все даташитах пишут? Или ее нужно брать не в даташите, а в каком-нибудь справочнике? 

[novikovfb 17]

есть справочник MIL-HDBK-217, но я не видел редакций свежее F notice 1 (1991 год). Вроде где-то бродит F notice 2 (1995 год).

Для российских есть Справочник Надежность радиоизделий 2006 года.

[Damyen 0]

09.09.2021 в 17:59, novikovfb сказал:

есть справочник MIL-HDBK-217

В этом справочнике есть параметр "power stress factor". Что он может означать? Судя по переводу, это возможные воздействия на объект?

[syoma 1]

Обычно у производителей есть отдельный раздел и доки по reliability, где они приводят FIT и прочие данные касательно надежности. Причина - эти данные накапливаются и обновляются по мере производства на основе долговременного тестирования. Например для Xilinx все данные находятся вот в этом отчете, который регулярно обновляется https://www.xilinx.com/support/documentation/user_guides/ug116.pdf. Для других микросхем и производителей нужно просто гуглить. 

 

Эти данные можно считать как worst case, поэтому общая оценка надежности может быть заниженной. Поэтому дальше можно использовать MIL-HDBK-217, Bellcore SR-332, ANSI/VITA 51.1-2008 для того, чтобы привести данные производителя к вашим условиям по температуре, стрессам и т.д. Для простых элементов типа транзисторов, резисторов и конденсаторов можно использовать просто данные из MIL-HDBK-217.

 

 

 

On 9/28/2021 at 2:00 PM, Джоконда said:

В этом справочнике есть параметр "power stress factor". Что он может означать? Судя по переводу, это возможные воздействия на объект?

Насколько я помню, этот фактор изменяет оценку надежности в зависимости от того насколько реальные параметры эксплуатации отличаются от максимальных условий работы, указанных в даташите. Например если у вас в схеме стоит электролит с максимальным рабочим напряжением 50В, а вы реально на него подаете не более 24В, то Power stress factor будет 24/50= 0,48. Соответственно, если этот конденсатор при работе на 50В имеет надежность 50 Fit, то в вашем случае он будет иметь надежность 50*0,48=24 FIT, то есть надежность повышается. Ну примерно так. Точно также power stress factor можно задать для других компонентов - транзистор рассчитан на ток 2А, а вы им коммутируете только 200ма - Power stress factor 0.1.  Резистор рассчитан на 2Вт, а вы на нем рассеиваете только 1Вт - 0,5 и т.д. 

[Damyen 0]

01.10.2021 в 13:16, syoma сказал:

Насколько я помню, этот фактор изменяет оценку надежности в зависимости от того насколько реальные параметры эксплуатации отличаются от максимальных условий работы

Да, спасибо, я уже разобрался.

[Damyen 0]

Еще кое-что. У микросхемы в даташите прочитал фразу "All certifications, 50-year minimum lifetime". 50 лет - время жизни микросхемы - это и есть время работы до первого отказа? То есть из этого и можно высчитать количество отказов за миллион часов?

[syoma 1]

1 hour ago, Джоконда said:

Еще кое-что. У микросхемы в даташите прочитал фразу "All certifications, 50-year minimum lifetime". 50 лет - время жизни микросхемы - это и есть время работы до первого отказа? То есть из этого и можно высчитать количество отказов за миллион часов?

Не очень. В lifetime каждый вкладывает свое определение. Например у всяких вентиляторов lifetime регламентируется как время, до которого должны доживать 80% или 90% тестируемых вентиляторов.