[m.pletnev 0]

6 часов назад, SNGNL сказал:

Рентген, характериографы и шаолинь с маркировкой это слишком муторная хрень, для такой задачки.

Всё гораздо проще: Поциент надежно крепится на операционной поверхности, любым удобным способом. Затем, на лицевой поверхности бормашинкой фрезеруется неглубокая лунка. Дно лунки аккуратно стравливается до поверхности кристалла, при  помощи стеклянной пипетки с RFNA. После просмотра под мелкоскопом и сравнения вскрытых поверхностей оригинала и подозреваемого, все станет ясно.

В том то и дело что не станет ясно. По крайней мере по внешнему виду видно что уже левак какой-то, и если стравливать и смотреть кристалл, то различий будет еще больше. Проблема в том, что официальной информации как должно быть, как допускается и как быть не может нет и техподдержка Texas Instruments не может помочь, т.к. купили мы ее у ООО Продаемпаленыемикросхемы. Сами для себя отсортировать конечно можно, но если уже купили, то предъявить поставщику ничего нельзя.

Вечно экономия на спичках боком выходит