Jump to content

    
Sign in to follow this  
Антон777

Ускоренные испытания на наработка до отказа.

Recommended Posts

Здравствуйте! Столкнулся со следующей проблемой.

Наработка до отказа должна быть не менее 20000ч в пределах срока службы 20 лет. 

Какие ускоренные испытания можно провести? Какие есть способы?

Share this post


Link to post
Share on other sites
17 минут назад, Антон777 сказал:

Мне нужно экспериментально подтвердить цифру 20000. Возможности 20000 часов мучить изделие конечно же нет. 

Испытывайте не одно изделие а 100 , и вроде как - период испытаний сократится в 100 раз .

Share this post


Link to post
Share on other sites

Тема ускоренных испытаний умерла лет 50 назад, на излете ламповой эры. С полупроводниковой техникой все гораздо более сложно и гораздо менее достоверно. О старении можно говорить для лазеров, мощных светодиодов и подобных устройств, работающих в предельных режимах. В этом случае традиционный (для исследований 50-летней давности) ускоряющий фактор - повышенная температура.

Так что требуемые цифры обосновывают расчетным путем на основе интенсивностей отказов компонентов (данные от производителей) и карт рабочих режимов.

Share this post


Link to post
Share on other sites
2 часа назад, Lmx2315 сказал:

Испытывайте не одно изделие а 100 , и вроде как - период испытаний сократится в 100 раз .

Об этом я знаю, но возможности такой нет. Спасибо!

1 час назад, V_G сказал:

Тема ускоренных испытаний умерла лет 50 назад, на излете ламповой эры. С полупроводниковой техникой все гораздо более сложно и гораздо менее достоверно. О старении можно говорить для лазеров, мощных светодиодов и подобных устройств, работающих в предельных режимах. В этом случае традиционный (для исследований 50-летней давности) ускоряющий фактор - повышенная температура.

Так что требуемые цифры обосновывают расчетным путем на основе интенсивностей отказов компонентов (данные от производителей) и карт рабочих режимов.

Вот о ужесточение внешних воздействующих факторов я думал, но где взять методику или где почитать как ее написать, какие брать данные и т д. 

Благодарю!

Share this post


Link to post
Share on other sites
1 час назад, Антон777 сказал:

Вот о ужесточение внешних воздействующих факторов я думал, но где взять методику или где почитать как ее написать, какие брать данные и т д. 

Скорость протекания деградационных процессов подчиняется уравнению Аррениуса-Эйринга, в котором в качестве ВВФ используются температура и влажность. Однако реальные параметры таковы, что для сколь-нибудь заметного ускорения деградации полупроводника надо задавать такие температуры, при которых разрушаются элементы конструкции устройства - прежде всего пластиковые корпуса. Достаточно сказать, что при термической диффузии в ходе производства полупроводниковых устройств используются температуры выше 1000 градусов, ниже скорость диффузии просто неприемлемо мала.

Share this post


Link to post
Share on other sites
6 hours ago, V_G said:

Так что требуемые цифры обосновывают расчетным путем на основе интенсивностей отказов компонентов (данные от производителей) и карт рабочих режимов.

Такие расчеты на практике дают очень консервативные результаты.

3 hours ago, V_G said:

подчиняется уравнению Аррениуса-Эйринга

Да, есть такая байка, что каждые 10 градусов температуры укорачивают жизнь электроники вдвое.

А вообще вот тут есть интересные формулы для кремния: https://www.ti.com/lit/an/sprabx4a/sprabx4a.pdf, позволяющие оценить протянет он свой срок службы в  20 лет и при какой температуре. И все эти ваши ускоряющие факторы как раз будут больше относиться к экспериментальной проверке деградации и срока службы.

Но к наработке на отказ они будут иметь малое отношение, так как она определяется случайными отказами во время полезного периода использования изделия, а не деградацией или старением.

Share this post


Link to post
Share on other sites
18 часов назад, Антон777 сказал:

Вот о ужесточение внешних воздействующих факторов я думал, но где взять методику или где почитать как ее написать, какие брать данные и т д. 

Благодарю!

Методы ускоренных испытаний ГОСТ Р 57394-2017 на безотказность.

Share this post


Link to post
Share on other sites

РД В 319.01.11-98 Типовые методики ускоренных испытаний на безотказность и долговечность

РД В 319.01.12-98 Типовые методики многофакторных испытаний на безотказность

Share this post


Link to post
Share on other sites

Join the conversation

You can post now and register later. If you have an account, sign in now to post with your account.

Guest
Reply to this topic...

×   Pasted as rich text.   Paste as plain text instead

  Only 75 emoji are allowed.

×   Your link has been automatically embedded.   Display as a link instead

×   Your previous content has been restored.   Clear editor

×   You cannot paste images directly. Upload or insert images from URL.

Sign in to follow this