Lmx2315 2 26 сентября, 2019 Опубликовано 26 сентября, 2019 · Жалоба Такой вопрос уважаемые : а когда микросхемы испытывают на сабдж, испытанию подвергается и оснастка на которой микросхема стоит - там , питание , схемы ресета , вспомогательные буферные элементы, испытания же должны происходить в рабочем режиме?Или как-то обходят этот вопрос стороной? Просто даже подать питание и такты на микросхему это же целая проблема должна быть? з.ы. мы сами один раз проходили сабдж но у нас был блок-законченное изделие и как бы не было таких проблем, кроме самих испытаний. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
alexunder 4 26 сентября, 2019 Опубликовано 26 сентября, 2019 · Жалоба Если испытывают конкретный чип, то только его и "облучают". Зачем при этом облучать питающую или тактирующую электронику? Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Pengozoid 0 26 сентября, 2019 Опубликовано 26 сентября, 2019 · Жалоба А почему бы не задать этот вопрос напрямую в спэлс, ниип или даже 22, если вы уже работали в этом направлении? Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
MegaVolt 25 26 сентября, 2019 Опубликовано 26 сентября, 2019 · Жалоба Облучают то что закажите. Т.е. направленным пучком конкретную микросхему. Диаметр пучка нужно узнавать отдельно. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Lmx2315 2 26 сентября, 2019 Опубликовано 26 сентября, 2019 · Жалоба 1 час назад, Pengozoid сказал: А почему бы не задать этот вопрос напрямую в спэлс, ниип или даже 22, если вы уже работали в этом направлении? Да мне просто любопытно, я рядовой исполнитель - кто мне будет отвечать? Да ещё про радстойкость и испытания. Когда я там был один раз нам рассказывали что в сектор облучения (около 60 градусов) попадает много чего, а не только сам образец но и оснастка на которой он находится. Это на гамма когда. А на нейтроны - там вообще целая область подвергается воздействию. 49 минут назад, MegaVolt сказал: Облучают то что закажите. Т.е. направленным пучком конкретную микросхему. Диаметр пучка нужно узнавать отдельно. А вот ещё такой вопрос - когда на гамму испытывают , там же по сути рентгеновская трубка и здоровый по напряжению разряд происходит, чтобы эффект нужный был. Это же должно наводки электромагнитные давать сильные или нет? Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
alexunder 4 26 сентября, 2019 Опубликовано 26 сентября, 2019 · Жалоба 1 hour ago, Lmx2315 said: Когда я там был один раз нам рассказывали что в сектор облучения (около 60 градусов) попадает много чего, а не только сам образец но и оснастка на которой он находится. Это на гамма когда. А на нейтроны - там вообще целая область подвергается воздействию. В зависимости от типа теста порой приходится создавать отдельные системы, переходники и платки с тестируемым чипом. Вот, например, камера для облучения тяжелыми ионами. Чип, разваренный на плату находится внутри, к "морде" камеры крепится плата-переходник, от которой kapton-шлейф идет к основной (управляющей) плате. А вот вариант тестирования TID того же чипа, но установка иная. Источник обведен красным кружком, красной стрелкой - плата с тестируемым объектом, желтым - плата управления, которая, как видно, спрятана за толстым слоем свинца. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Lmx2315 2 26 сентября, 2019 Опубликовано 26 сентября, 2019 · Жалоба очень интересно, спасибо! Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
yes 5 26 сентября, 2019 Опубликовано 26 сентября, 2019 · Жалоба для ТЗЧ вроде бы должны расковыривать пластик, чтобы прямо в кристалл попадало - в керамике вроде как должны быть протестированы производителем "из коропки" много картинок у Микрочипа (бывшего Актела) во всяких бумагах про их радстойкость, в gpl nasa gov (давно там не был, гугль говорит вот оно - https://radhome.gsfc.nasa.gov) много тестов есть и каталогов с результатами тестов комплектухи Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
yes 5 30 сентября, 2019 Опубликовано 30 сентября, 2019 · Жалоба как это делают в Лос-Аламосе если кому интересно, из микросемисовской доки про тест нейтронами (поэтому в параллель платы) TR0020_Neutron.pdf Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Lmx2315 2 30 сентября, 2019 Опубликовано 30 сентября, 2019 · Жалоба Интересно, спасибо. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться