[demon_x 0]

Заглубляют цифры из Либерти - это необходимый пессимизм. В тонких процессах удельный вес локальных вариаций сравним с глобальными. У меня в практике был случай, когда два рядом стоящих одинаковых транзистора при полной идентичности окружающего лейаута отличались по проводимости в два раза. Я до сих пор не знаю как тулзы могут справляться с такими перекосами, как и не понимаю - это так просто очень повезло обнаружить феномен, или такая ситуация является нормальной для тех технологических норм. Вероятно, что встретить такой перекос в пределах одной асинхронной цепи более чем один раз проблематично, но вопрос все равно остаётся очень открытым.

 

 

Другая причина пессимизма возможно лишние библиотеки. FF на 85C и FF на 125С - это два совершенно разных FF, а ещё играет очень немаловажную роль определение точки FF - FF-total, FF-global, FF-perf. По моему опыту, каждый ФАБ определяет точки по разному. И библиотеки характеризует по разному. И многофакторную оптимизацию требуют по разному. К примеру, на последнем процессе сетап должен проверяться и выдерживаться в 3 PVT корнерах, а вот холд - в 10. И я совершенно не понимаю причин таких требований. Просто надо и все.

 

 

мы работаем или планируем работать в ближайшем будущем со всем, что меньше 28нм. Большего сказать в паблике не могу. С легкой ностальгией вспоминаю 65нм mixed mode process - там модели почти полностью соответствуют транзисторам в кремнии, локальные вариации в пределах 5-10% и технологические нормы можно просто запомнить. Если надо что-то нарисовать, то рисовать просто и оно потом работает и в симуляции и в кремнии. Хорошее было время.

 

 

--

С уважением,

Демон

 

[Shivers 0]

Пессимизм не в либерти моделях, пессимизм в алгоритме STA тулов, которые этот либерти используют. Дело здесь в следующем: пусть есть некая погрешность характеризации задержки в одном элементе, пусть есть погрешность округления промежуточных результатов алгоритма STA (интерполяция дот-либа, дерейты и т.д.). Теперь представьте, что в цепочке стоит 30-40 элементов, и через них считается прохождение сигнала. Какова погрешность расчета для всей цепочки? Скорее всего так эта погрешность и выливается в 10-20% пессимизма, которые я наблюдал на 65нм. Могу только предположить, что приемы (вычисление мин/макс, среднего и отклонения), которые Вы описали, как раз и направлены на повышение точности, и снижение этого самого пессимизма. Потому что 10-20%, это очень много.

 

p.s. ну, собственно, нагуглил, что это за дополнение такое к либерти. Synopsys: Statistical moment-based Liberty Variation Format (LVF) extensions added to Liberty library modeling standard. Cadence: http://www.tauworkshop.com/2016/slides/10_...ussian_POCV.pdf Другими словами, это расширение для SSTA, очень свежее, и для процессов суб 16нм. Удачи! У нас в РФ еще 28нм не все освоили =)

[demon_x 0]

Спасибо, такого файлика в таком красивом виде я еще не видел. А так на 13-ти страницах суммаризировано все, что мне рассказывали характеризационные инженеры с ФАБа. Только пока не понятно как они собираются нам помочь - по их словам тулзы к новому формату еще не готовы и использовать его не умеют, но охарактеризовать сумматор они все же собираются. Может просто заложат туда конские запасы, чтобы оно в любом случае пролезло :cranky: И будет в проекте очередной черный ящик

 

Другими словами, это расширение для SSTA, очень свежее, и для процессов суб 16нм. Удачи! У нас в РФ еще 28нм не все освоили =)

Так я и не утверждал, что я имею отношение к вашим краям =)

 

Ну хорошо, может у кого есть реальный рабочий опыт характеризации кастомной библиотеки целов с 28нм на пониженное напряжение? Предельно упрощаем задачу. Будем характеризовать некие INV, BUF, NAND2, NOR2, 32bit DFF, 32bit LATCH на 0.6V+-10%. Исходные данные те же. Есть готовый лейаут в 28нм, есть транзисторный нетлист. Надо получить мультикорнер библиотеку с поддержкой NLDM и CCS для SSTA, которой сможет пользоваться синтезатор и P&R. Ну не может же быть что ни у кого подобная задаче не возникала? Мне бы начать с чего-то, а с более тонкими процессами и свежими дополнениями дальше уже буду разбираться сам.

 

--

С уважением,

Демон

 

[Shivers 0]

По тулам, опять же со слов саппорта кэденс, цифровое флоу и по сию пору работает на обычных NLDM либах, но уже умеет использовать и CCS. А вот SSTA только в сайнофф режиме доступно. И это про 65-28нм! То, о чем Вы пишете, думаю, не то что не поддерживается тулами, этот формат только в этом году в стандарт ввели! Т.е. я бы вообще не заморачивался ... Другое дело, что у Вас налицо проблема - в либе одни цифры, а в моделировании другие, как я понял. Т.е. надо отделить мух от котлет, а байки от ситуации дэфакто. Или вы в фабричной либе уже видите эти новые конструкции вроде ocv_sigma_cell_rise?

[designer78 0]

demon_x

Cadence заявляет что у них все есть и их тулы самые туловые и умеют все что надо аш до 5-7нм. И форму учитывают и стату. Но сам никогда не работал не знаю.

Обратите внимание внимание у них есть спец курс по стат характеризации либ.

www.cadence.com/content/cadence-www/global/en_US/home/training/all-courses/86130.html (но видимо так много желающих, что они пока предлагают запрос оставить)

Там упоминается некий тул Cadence® Variery видимо в последнем Liberate, и монте-карло т.е. тех процесс должен быть хорошо характеризован на куче запусков.

Странно что они вам не предложили раскошелиться на пару-тройку килобаксов и прослушать этот курс.

Еще есть курс и попроще для народа без статы в феврале, может быть вам тоже полезен будет.

www.cadence.com/content/cadence-www/global/en_US/home/training/all-courses/85041.html

 

Но вот вопрос к посещавшим такие курсы, какое соотношение цена/польза?

[Shivers 0]

Польза есть только от сильно advanced тренингов. Обычные тренинги - просто пересказывание user manual и methodology guide для ленивых. Самую большую пользу приносят сервисные часы, поскольку можно перенять различные лайфхаки, обход багов в тулах, и прочие приемчики, которые на тренинге не покажут. Конечно, это если знать куда смотреть, на что, и правильные вопросы задавать.

[vermut.42 0]

Если еще актуально: есть опыт промышленной характеризации , и NLDM и СCS. Не гарантирую, что смогу вам помочь, но попробую поделиться чем знаю.

 

P.S. мне почему то нельзя использоваться личку на форуме, или напишите мне, или как лучше с вами связаться?