Перейти к содержанию
    

Конференции по ЭКБ

Несмотря на то, что здесь уже существует подобная тема (конференции по вопросам надежности РЭА), предлагается немного расширить и актуализировать данную тематику, исключив конференции, которые уже давно не проводятся, а также конференции, программа которых включает в себя всевозможные направления науки, т.е. конференции "ни о чём". Меня, как специалиста, интересуют, прежде всего, события по вопросам испытаний и надежности электрорадиоизделий и электронных модулей. Однако предлагается указывать здесь все коференции, семинары и выставки, имеющие отношение к разработке, производству, испытанию и применению ЭКБ (микросхем, полупроводниковых приборов, оптических приборов, модулй и т.д.) и РЭА. Вот те конференции, которые известны мне:

 

http://www.elstandart.spb.ru/page/131

 

http://www.mntores.inlife.ru/baza.html

 

http://www.mntores.inlife.ru/nano.html

 

http://www.mntores.inlife.ru/pulsar.html

 

http://miet.ru/content/s/812/e/52693/34

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Ежегодная Всероссийская научно-техническая конференция по радиационной стойкости электронных систем.

http://niipriborov.ru/konferenciya.html

 

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Приношу извинения администрации сайта, если нарушаю правила. Но коли тут идет речь о конференциях, не удержусь и приглашу к участию в схожей конференции "Испытание и тестирование изделий электронной техники", которая планируется в Москве, 5 июня. Вот такая примерная программа

Обзор НТД по испытанию и тестированию изделий электронной техники (ИЭТ) на всех стадиях жизненного цикла.

Входной контроль компонентов и комплектующих узлов.

Механические испытания, в том числе динамические.

Климатические испытания.

Испытания на надежность.

Испытания на электробезопасность.

Испытания на электромагнитную совместимость.

Электрический контроль сборки плат

Функциональные тесты и испытания.

Особенности и требования к испытанию и тестированию спецтехники.

Программно-аппаратные средства проведения испытаний.

 

Буду признателен за добавления и правки. Также приглашаю к участию и с докладами, если есть чем поделиться с народом. Прошлогодняя конференция собрала 170 человек

Изменено пользователем Элком

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Приношу извинения администрации сайта, если нарушаю правила. Но коли тут идет речь о конференциях, не удержусь и приглашу к участию в схожей конференции "Испытание и тестирование изделий электронной техники", которая планируется в Москве, 5 июня. Вот такая примерная программа

Обзор НТД по испытанию и тестированию изделий электронной техники (ИЭТ) на всех стадиях жизненного цикла.

Входной контроль компонентов и комплектующих узлов.

Механические испытания, в том числе динамические.

Климатические испытания.

Испытания на надежность.

Испытания на электробезопасность.

Испытания на электромагнитную совместимость.

Электрический контроль сборки плат

Функциональные тесты и испытания.

Особенности и требования к испытанию и тестированию спецтехники.

Программно-аппаратные средства проведения испытаний.

 

Буду признателен за добавления и правки. Также приглашаю к участию и с докладами, если есть чем поделиться с народом. Прошлогодняя конференция собрала 170 человек

 

Кто организатор? Как связаться с оргкомитетом? Ссылка на мероприятие?

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Может быть, эта:

 

II Всероссийская конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники

http://www.russianelectronics.ru/leader-r/...7856/doc/67857/

 

И еще вот нашел (уже закончился):

 

Форум «Производство электроники: от входного контроля до организации производства»

 

http://www.elcomdesign.ru/reviews/reviews_161.html

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Приношу извинения администрации сайта, если нарушаю правила. Но коли тут идет речь о конференциях, не удержусь и приглашу к участию в схожей конференции "Испытание и тестирование изделий электронной техники", которая планируется в Москве, 5 июня. Вот такая примерная программа

Обзор НТД по испытанию и тестированию изделий электронной техники (ИЭТ) на всех стадиях жизненного цикла.

Входной контроль компонентов и комплектующих узлов.

Механические испытания, в том числе динамические.

Климатические испытания.

Испытания на надежность.

Испытания на электробезопасность.

Испытания на электромагнитную совместимость.

Электрический контроль сборки плат

Функциональные тесты и испытания.

Особенности и требования к испытанию и тестированию спецтехники.

Программно-аппаратные средства проведения испытаний.

 

Буду признателен за добавления и правки. Также приглашаю к участию и с докладами, если есть чем поделиться с народом. Прошлогодняя конференция собрала 170 человек

 

Приглашение на деревню к дедушке?

Поделиться сообщением


Ссылка на сообщение
Поделиться на другие сайты

Присоединяйтесь к обсуждению

Вы можете написать сейчас и зарегистрироваться позже. Если у вас есть аккаунт, авторизуйтесь, чтобы опубликовать от имени своего аккаунта.

Гость
Ответить в этой теме...

×   Вставлено с форматированием.   Вставить как обычный текст

  Разрешено использовать не более 75 эмодзи.

×   Ваша ссылка была автоматически встроена.   Отображать как обычную ссылку

×   Ваш предыдущий контент был восстановлен.   Очистить редактор

×   Вы не можете вставлять изображения напрямую. Загружайте или вставляйте изображения по ссылке.

×
×
  • Создать...