Stalker2727 0 1 декабря, 2012 Опубликовано 1 декабря, 2012 · Жалоба Здравствуйте, необходимо сделать расчет интенсивности отказов устройства, согласно "ОСТ 4Г 0.012.242-84 Методика расчета показателей надежности" следует воспользоваться справочником "Надежность изделий электронной техники, электротехники и квантовой электроники". Вопрос, где можно найти этот самый справочник? Гугл ответа не дал. Прикрепил рисунок с данной цитатой. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
i-mir 0 2 декабря, 2012 Опубликовано 2 декабря, 2012 · Жалоба Посмотрите этот. Обратите внимание - это 1975 год. ____4.__.202.014.txt Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Gennadiy_1 0 2 декабря, 2012 Опубликовано 2 декабря, 2012 · Жалоба Здравствуйте, необходимо сделать расчет интенсивности отказов устройства, согласно "ОСТ 4Г 0.012.242-84 Методика расчета показателей надежности" следует воспользоваться справочником "Надежность изделий электронной техники, электротехники и квантовой электроники". Вопрос, где можно найти этот самый справочник? Гугл ответа не дал. Прикрепил рисунок с данной цитатой. Сейчас этот документ именуется справочник "Надежность электрорадиоизделий". Если он вам действительно нужен и его необходимо официально купить, то следует обращаться к разработчику справочника - Филиал 46ЦНИИ или в ОАО "РНИИ "Электронстандарт" Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
[email protected] 0 2 декабря, 2012 Опубликовано 2 декабря, 2012 · Жалоба Тоже интересует этот справочник. Последняя редакция 2006 года? Неужели нет нигде в открытом доступе? Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Stalker2727 0 2 декабря, 2012 Опубликовано 2 декабря, 2012 · Жалоба Всем большое спасибо за ответы, разобрался. А каким справочником воспользоваться для импортных деталей? Например, интересует микроконтроллер ATmega16. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
asonika-k 0 3 декабря, 2012 Опубликовано 3 декабря, 2012 (изменено) · Жалоба Всем большое спасибо за ответы, разобрался. А каким справочником воспользоваться для импортных деталей? Например, интересует микроконтроллер ATmega16. Справочник "Надежность ЭРИ ИП" MIL-HDBK-217F. Reliability prediction of electronic equipment RADS-TR-89-177. VHSIC/VHSIC-LIKE. Reliability prediction modeling Да, и посмотрите на этом форуме: http://electronix.ru/forum/index.php?showtopic=97609 Изменено 3 декабря, 2012 пользователем asonika Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
i-mir 0 3 декабря, 2012 Опубликовано 3 декабря, 2012 · Жалоба Тоже интересует этот справочник. Последняя редакция 2006 года? Неужели нет нигде в открытом доступе? Почему же нет, у нас есть Sprav2006.pdf Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
[email protected] 0 4 декабря, 2012 Опубликовано 4 декабря, 2012 · Жалоба i-mir, спасибо, забрал считать! Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Stalker2727 0 6 декабря, 2012 Опубликовано 6 декабря, 2012 · Жалоба Почему же нет, у нас есть А справочника "Надежность ЭРИ ИП" случайно не завалялось? Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Gennadiy_1 0 6 декабря, 2012 Опубликовано 6 декабря, 2012 · Жалоба А справочника "Надежность ЭРИ ИП" случайно не завалялось? Этот справочник тоже в ОСТ 4Г 0.012.242-84 прописан? :) Фактически справочник повторяет MIL-HDBK-217F notice 2, поэтому смотрите его, сильно не ошибетесь. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
i-mir 0 6 декабря, 2012 Опубликовано 6 декабря, 2012 · Жалоба Как говориться вам шашечки или ехать? Если вам нужен формальный подход, можно рассуждать так: ГОСТ 27.301-95 прямо ссылается на MIL-HDBK-217Е, поэтому берем данные оттуда. Все в инете есть, если попросите выложу и сюда. Но реально эти данные уже далеки от чего-то реального, ибо надежность элементов уже перестала определяться качеством самих элементов - а больше связанна с условиями работы, т.е. коректность режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д. Естественно дешевый Китай не рассматриваем здесь. Повторюсь - если нужно "кирпич данных" по надежности - ответ выше, если что-то реально посчитать - пишите сюда. Отвечаю - у меня этого справочника к сожалению нет. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
Gennadiy_1 0 7 декабря, 2012 Опубликовано 7 декабря, 2012 · Жалоба надежность элементов уже перестала определяться качеством самих элементов - а больше связанна с условиями работы, т.е. коректность режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д. Я бы не стал утверждать столь категорично. Моя практика показывает, что дефектных ЭРИ достаточно много, в том числе, и иностранного производства. А вот обращать внимание и пытаться учесть при прогнозировании условия работы весьма целесообразно. Например, RIAC, разработчик RIAC-HDBK-217Plus, приводит данные, что поток отказов ЭРИ (по причине их ненадежности) в среднем составляет только около 20% потока отказов аппаратуры. Поэтому и предлагает качественный подход, позволяющий оценить вероятность отказов аппаратуры по другим причинам, не связанных с ненадежностью ЭРИ. Советую также ознакомиться с руководством FIDES Guide 2009 Edition A, документ доступен для загрузки после регистрации на сайте http://fides-reliability.org. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
asonika-k 0 8 декабря, 2012 Опубликовано 8 декабря, 2012 (изменено) · Жалоба Отвечаю - у меня этого справочника к сожалению нет. Тут есть: http://www.weibull.com/knowledge/milhdbk.htm Но реально эти данные уже далеки от чего-то реального, ибо надежность элементов уже перестала определяться качеством самих элементов - а больше связанна с условиями работы, т.е. коректность режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д. Вы перепутали два понятия "работоспособное состояние" и безотказность. Если аппаратура не работает в требуемых "...условиях работы, т.е. коректность режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.", то о ее работоспособном состоянии, а тем более о безотказности, и говорить не приходится! Безотказность - функция времени, и при оценки ее показателей априори принимается, что аппаратура в начальный момент времени находится в работоспособном состоянии (во всех режимах, условиях применения и т.д.). А при такой постановке отказы аппаратуры будут определятся отказами элементов. Изменено 8 декабря, 2012 пользователем asonika Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться
i-mir 0 13 апреля, 2013 Опубликовано 13 апреля, 2013 · Жалоба здесь можно много обсуждать про теоретическую и практическую надежность. раз вы начали с академических знаний - то не лишне в начале обговорить что практически разработчик не в курсе о тех условиях, в которых работает ваш транзистор, микросхема и т.д. Простой пример с тиристорами - напруга 220 В - ставь себе 3й класс на 300 В и радуйся, ан нет - ставим максимальный 12класс, ибо дохнут. Все знают про реактивный характер нагрузки и мы ее фильтруем - но, по ходу не все так гладко. На осциллографе все ок - но повторюсь не всю картину мы можем получить через наши приборы. Учтите что вся информация которая есть у вас - косвенная, мы ж не можем пока "почувствовать ток" напрямую, а только через экран. А кто сказал что в этом экране вся картина видна ? Это больше область философии. Набумаге, когда квадратики ваши работают "в режимах" - можете крутить любые формулы, не вопрос. На практике же мир очень сложная штука и это честно - радует. Удачи в расчетах, они дают ориентировочную оценку - понять что мы не ошиблись на порядок, а ошибки +/- 100% это ок. как бы это дико не звучало. Цитата Поделиться сообщением Ссылка на сообщение Поделиться на другие сайты Поделиться