[Stalker2727 0]

Здравствуйте, необходимо сделать расчет интенсивности отказов устройства, согласно "ОСТ 4Г 0.012.242-84 Методика расчета показателей надежности" следует воспользоваться справочником "Надежность изделий электронной техники, электротехники и квантовой электроники". Вопрос, где можно найти этот самый справочник? Гугл ответа не дал. Прикрепил рисунок с данной цитатой.

[i-mir 0]

Посмотрите этот.

Обратите внимание - это 1975 год.

____4.__.202.014.txt

[Gennadiy_1 0]

Здравствуйте, необходимо сделать расчет интенсивности отказов устройства, согласно "ОСТ 4Г 0.012.242-84 Методика расчета показателей надежности" следует воспользоваться справочником "Надежность изделий электронной техники, электротехники и квантовой электроники". Вопрос, где можно найти этот самый справочник? Гугл ответа не дал. Прикрепил рисунок с данной цитатой.

Сейчас этот документ именуется справочник "Надежность электрорадиоизделий". Если он вам действительно нужен и его необходимо официально купить, то следует обращаться к разработчику справочника - Филиал 46ЦНИИ или в ОАО "РНИИ "Электронстандарт"

[[email protected] 0]

Тоже интересует этот справочник. Последняя редакция 2006 года? Неужели нет нигде в открытом доступе?

[Stalker2727 0]

Всем большое спасибо за ответы, разобрался. А каким справочником воспользоваться для импортных деталей? Например, интересует микроконтроллер ATmega16.

[asonika-k 0]

Всем большое спасибо за ответы, разобрался. А каким справочником воспользоваться для импортных деталей? Например, интересует микроконтроллер ATmega16.

 

Справочник "Надежность ЭРИ ИП"

MIL-HDBK-217F. Reliability prediction of electronic equipment

RADS-TR-89-177. VHSIC/VHSIC-LIKE. Reliability prediction modeling

 

Да, и посмотрите на этом форуме:

http://electronix.ru/forum/index.php?showtopic=97609

Edited December 3, 2012 by asonika

[i-mir 0]

Тоже интересует этот справочник. Последняя редакция 2006 года? Неужели нет нигде в открытом доступе?

 

Почему же нет, у нас есть

Sprav2006.pdf

[[email protected] 0]

i-mir, спасибо, забрал считать!

[Stalker2727 0]

Почему же нет, у нас есть

А справочника "Надежность ЭРИ ИП" случайно не завалялось?

[Gennadiy_1 0]

А справочника "Надежность ЭРИ ИП" случайно не завалялось?

Этот справочник тоже в ОСТ 4Г 0.012.242-84 прописан? :)

Фактически справочник повторяет MIL-HDBK-217F notice 2, поэтому смотрите его, сильно не ошибетесь.

[i-mir 0]

Как говориться вам шашечки или ехать?

Если вам нужен формальный подход, можно

рассуждать так: ГОСТ 27.301-95 прямо

ссылается на MIL-HDBK-217Е, поэтому берем

данные оттуда. Все в инете есть, если попросите

выложу и сюда.

 

Но реально эти данные уже далеки от чего-то

реального, ибо надежность элементов уже перестала

определяться качеством самих элементов - а больше

связанна с условиями работы, т.е. коректность

режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.

Естественно дешевый Китай не рассматриваем здесь.

 

Повторюсь - если нужно "кирпич данных" по надежности

- ответ выше, если что-то реально посчитать - пишите сюда.

 

Отвечаю - у меня этого справочника к сожалению нет.

[Gennadiy_1 0]

надежность элементов уже перестала

определяться качеством самих элементов - а больше

связанна с условиями работы, т.е. коректность

режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.

Я бы не стал утверждать столь категорично. Моя практика показывает, что дефектных ЭРИ достаточно много, в том числе, и иностранного производства.

А вот обращать внимание и пытаться учесть при прогнозировании условия работы весьма целесообразно. Например, RIAC, разработчик RIAC-HDBK-217Plus, приводит данные, что поток отказов ЭРИ (по причине их ненадежности) в среднем составляет только около 20% потока отказов аппаратуры. Поэтому и предлагает качественный подход, позволяющий оценить вероятность отказов аппаратуры по другим причинам, не связанных с ненадежностью ЭРИ.

Советую также ознакомиться с руководством FIDES Guide 2009 Edition A, документ доступен для загрузки после регистрации на сайте http://fides-reliability.org.

[asonika-k 0]

Отвечаю - у меня этого справочника к сожалению нет.

Тут есть:

http://www.weibull.com/knowledge/milhdbk.htm

 

Но реально эти данные уже далеки от чего-то

реального, ибо надежность элементов уже перестала

определяться качеством самих элементов - а больше

связанна с условиями работы, т.е. коректность

режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.

Вы перепутали два понятия "работоспособное состояние" и безотказность. Если аппаратура не работает в требуемых "...условиях работы, т.е. коректность

режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.", то о ее работоспособном состоянии, а тем более о безотказности, и говорить не приходится! Безотказность - функция времени, и при оценки ее показателей априори принимается, что аппаратура в начальный момент времени находится в работоспособном состоянии (во всех режимах, условиях применения и т.д.). А при такой постановке отказы аппаратуры будут определятся отказами элементов.

Edited December 8, 2012 by asonika

[i-mir 0]

здесь можно много обсуждать про теоретическую и практическую надежность.

раз вы начали с академических знаний - то не лишне в начале обговорить что практически

разработчик не в курсе о тех условиях, в которых работает ваш транзистор, микросхема и т.д.

Простой пример с тиристорами - напруга 220 В - ставь себе 3й класс на 300 В и радуйся,

ан нет - ставим максимальный 12класс, ибо дохнут. Все знают про реактивный характер нагрузки

и мы ее фильтруем - но, по ходу не все так гладко. На осциллографе все ок - но повторюсь

не всю картину мы можем получить через наши приборы. Учтите что вся информация которая

есть у вас - косвенная, мы ж не можем пока "почувствовать ток" напрямую, а только через

экран. А кто сказал что в этом экране вся картина видна ?

Это больше область философии.

Набумаге, когда квадратики ваши работают "в режимах" - можете крутить любые формулы,

не вопрос.

На практике же мир очень сложная штука и это честно - радует.

Удачи в расчетах, они дают ориентировочную оценку - понять что мы не ошиблись на порядок,

а ошибки +/- 100% это ок. как бы это дико не звучало.