Перейти к содержанию

    

Nickolay30

Участник
  • Публикаций

    5
  • Зарегистрирован

  • Посещение

Репутация

0 Обычный

Контакты

  • Сайт
    http://
  • ICQ
    0
  1. Здравствуйте, господа форумчане. Неожиданно возник вопрос, а каким способом вы подтверждаете срок хранения изделий в упаковке предприятия-изготовителя на этапе разработки? Неужели проводите испытания на сохраняемость в течении 12 месяцев, ведь как правило таким количеством времени вы не располагаете? В моем случае хранение в упаковке в условиях отапливаемых хранилищ
  2. Цитата(qwaszx @ Mar 14 2017, 23:22) Параметры отапливаемых хранилищ с кондиционированием воздуха можете узнать в ГОСТ В 9.003 (или в ГОСТ 15150). Для герметичных микросхем проводятся ускоренные испытания увеличением температуры (для негерметичных - совместно увеличением температуры и влажности) Температура при испытаниях не должна превышать предельно-допустимую для Вашей микросхемы в режиме хранения. Коэффициент ускорения - на основе уравнения Аррениуса. Значение энергии активации в уравнении Аррениуса либо определите сами (например, см. ГОСТ Р 51910) или используйте априорное значение (например, см. ОСТ В 4Г 0.012.241-84) Объем выборки определите исходя из требуемых уровней гаммы и принятого значения доверительной вероятности. Не забудьте провести после испытаний на сохраняемость кратковременные испытания на безотказность. Не знаю как Вас и благодарить за такой развернутый и относительно понятный ответ. По крайней мере понятна логика и направление в котором необходимо двигаться. Благодарю Вас!!!
  3. Цитата(qwaszx @ Mar 14 2017, 17:09) Как правило, надо начинать с ТЗ. Что конкретно написано в ТЗ в части подтверждения требований к сохраняемости? На какие ГОСТы есть ссылки в ТЗ? Для каких условий задано требование в 25 лет (для отапливаемого хранилища, неотапливаемого хранилища и др.) В каком корпусе микросхема: герметичном или нет? И т.д. Гамма-процентный срок сохраняемости при хранении в условиях отапливаемых хранилищ с кондиционированием воздуха должен быть не менее 25 лет. Ссылка только на ГОСТ описывающий общие требования к условиям хранения. Микросхема в герметичном корпусе.
  4. Цитата(V_G @ Mar 13 2017, 13:31) Не думаю, что в ГОСТах что-то найдется, особенно касательно микросхем. Тема ускоренных испытаний обсуждалась в научных кругах где-то до конца 70-х годов, пока ламповая техника (явно подверженная старению) окончательно не вышла из оборота. Ускоряющим фактором там была температура. С полупроводниками при таком раскладе много сложнее: деградационные процессы в них можно ощутимо ускорить лишь при ОЧЕНЬ высоких температурах (вероятно, за 1000 градусов). Естественно, при таких температурах вся обвязка полупроводника выйдет из строя. Другим ускоряющим фактором является радиация, но тут проблемы и с закрытостью, и с опасностью исследований. Но ведь в данном случае вопрос состоит не в том чтобы определить ресурс микросхемы с помощью ускоряющего фактора. А вопрос, как я его понимаю, вот в чем, каким способом (сколько циклов необходимо) можно ускорить с помощью климатики (температура +/-, перепады температур, влажность и т.д.), как например в ГОСТ Р 51372-99. Интересует опыт людей, как они подтверждали срок. Сейчас подумал вот о чем. Интересно, если мы подтверждаем наработку до отказа в режиме эксплуатации, например 200 тыс. часов (т.е. ~23 года), имеем ли мы право утвердительно заявить что мы подтвердили сохраняемость равную 23 года? P.S: Заранее извиняюсь, если это покажется кому-нибудь глупостью, я только учусь.
  5. Здравствуйте! Подскажите пожалуйста, кто-нибудь имел дело с проведением ускоренных испытания на сохраняемость, необходимо подтвердить 25 лет? Интересуют способы обоснования ПИ, в ГСОТах, ОСТах подобного не встречал (область "микросхема").