Jump to content

    

Skandalli

Свой
  • Content Count

    183
  • Joined

  • Last visited

Community Reputation

0 Обычный

About Skandalli

  • Rank
    Частый гость
  • Birthday 12/07/1988

Контакты

  • Сайт
    Array
  • ICQ
    Array

Информация

  • Город
    Array

Recent Profile Visitors

1810 profile views
  1. agilent_2024.dat в папке /upload/RF&Microwave/_Keysight_ вроде бы как решил проблему
  2. Ни разу не слетал. Ну если не лазить шаловливыми ручонками в систему лицензирования. А так все очень стабильно.
  3. Вторая часть марлезонского балета. Замерил конденсатор murata, получил эквивалентную схему R=0.04, R=190 pH, C=101 pF. Все вроде похоже на правду. Теперь надо вытащить из S11 зависимость C(f). Agilent на своем форуме прям так и рекомендует: Yin=yin(S11, PortZ1) Bin=imag(Yin) Cap=Bin/(2*PI*freq). Но в этом случае я получаю что-непонятное, с резонансом под десятки пФ. Что-то не так. В чем может быть загвоздка?
  4. Вроде бы совсем недавно видел у них же на сайте. Или уже нет?
  5. А такой вопрос, начинаю изучать симуляторы EM, что выбрать? Empro, CST, Feko?
  6. В Genesys для RO4350 в Library указано как раз 3.48 (а в Library ADS 3.66!). Несколько лет назад, был посчитан hairpin фильтр на X-band, он ушел, если не изменяет память, вверх. При анализе причины ухода, всплыло 3.48->3.66, фильтр был пересчитан с 3.66, и результат измерения в схеме на ~95% совпал с Momentum.
  7. Пользовался таким или очень похожей моделью (за давностью лет не вспомню сейчас). Удобный, легкий, неплохая автономность (включил - замерил - выключил и так много раз). Есть разъем для наушников - можно слушать радио, правда нет автоподстройки по частоте (или я ее не нашел). В управлении - все точно так же, как и у стационарных братьев. Единственное "но" - верньер непрерывной настройки очень легко крутится, и случайным движением можно какую-то настройку сбить.
  8. У меня есть две схемы, соответственно, мне нужно взять Y-par в одной и другой, вычесть их, потом преобразовать в Z и опять вычесть в разных комбинациях. (open-short de-embedding). А потом построить какие-то графики/таблицы. Просто в ADS такие функции преобразования есть, и неужели их нет в AWR... В крайнем случае, можно, конечно, и по формуле все сделать, но там формула километровая.
  9. С Праздником! Господа, а как перегнать Z-par в Y-par? То есть, я что-то делаю в Output Equation с z-par, а результат нужно сконвертировать.
  10. Спасибо. А если схему видоизменить в однопортовую схему? AITT не работает с s1p, то есть S-par второго порта должен быть, но если он будет показывать какой-то рандом, то это может как-то сказаться на деембеддинге S11?
  11. Результат какой-то удручающий. Что-то я упускаю, судя по всему. Был взят Genesys, был взят файл S-param конденсатора Murata. Собрал "структуру" типа DUT+что-то вокруг. Снял S-par. Нарисовал еще одну схему, без S-par, но с удвоенной длиной полоска. Снял S-par. Запихал это все в AITT, получил что-то бредовое. По моим представлениям, я должен бы получить что-то очень похожее на исходные данные Murata. Но нет. Скрины прилагаю. В том числе и сравнительные графики (последний скрин).
  12. Да, есть печатная плата с точно таким же полоском, как и на плате с кристаллом. Кристалл одним контактом сидит на земле. То есть: 1) Устанавливаем на плату разъемы (получается некая линия на проход) 2) Калибруемся 2) Измеряем плату - S11 3) Измеряем кристалл - S11 и на ПК это дело обрабатываем? В чем это можно быстро обработать (никогда не приходилось таким заниматься)? P.S. 2x Thru - это просто линия на проход же? или речь идет об удвоенной длине. То есть если от разъема к DUT идет МПЛ длиной L, то тут 2L?
  13. То есть, подводящие к конденсатору полоски оставляем разомкнутыми? Если линия будет не равна lambda/4? Это сильно искажает измерения? Это loss, delay - все то, что можно посчитать Txline или AWR, верно?
  14. Здравствуйте. Помогите советом. Случилась неприятность, понадобилось замерить конденсатор (кристалл). Диапазон измерений от 1ГГц до "как можно больше". "Замерять надо было еще вчера, срочно, на том, что есть" (с) начальство. Ситуация осложняется тем, что в практике подразделения таких измерений никогда не было в силу специфики работы. Кристалл очень маленький - разваривается на ПП. Поэтому нужно делать, как я понимаю, TRL калибровку. В наличии есть две ПП на каждой три равные МПЛ на 10 ГГц. Вопросы: 1) Достаточно ли сделать меру Match (например, установив на плату 50 ом) и меру Short (закоротка МПЛ)? Мера Line, насколько я понимаю, может быть заменена Match. 2) Можно ли не проводить калибровку Thru (структура платы не позволяет это сделать), или заменить ее просто SMA-переходом? Да, это погрешность, насколько она большая в случае с переходом? 3) Был скалиброван VNA с помощью Ecal, а потом проведено измерение S11 обычного керамического конденсатора известной емкости. В AWR по S11 на основании эквивалентной модели L-C-R емкость подобрать не удалось. В принципе, это понятно - разъемы, МПЛ и т.д. То есть, вариант стандартной калибровки не работает. 4) Как правильно задать новый набор в VNA? Есть ли там какие-то нюансы, типа классов калибровки S11A, S11 и и тд.?
  15. Еще такой вопросик: есть какая-то электромагнитная структура. Как посмотреть излучение структуры? Меня интересует, как влияет расстояние до нескольких via на поведение полоска. Чтоб можно было как-то это оценивать. Пример в аттаче Em.rar